特許
J-GLOBAL ID：201103044174027219
メモリ装置およびデータ判定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
渡邊 隆
, 実広 信哉
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-500686
公開番号（公開出願番号）：特表2011-515785
出願日： 2008年12月12日
公開日（公表日）： 2011年05月19日
要約：
メモリ装置およびデータ判定方法が提供される。本発明のメモリ装置は、メモリセルアレイと、前記メモリセルアレイから第1チャネルを経由して第1データを読み出し、前記第1チャネルの特性に基づいて設定された第1個数の判定レベルを用いて、前記第1データに対して硬判定および軟判定のうちの少なくとも1つを行い、前記メモリセルアレイから第2チャネルを経由して第2データを読み出し、前記第2チャネルの特性に基づいて設定された第2個数の判定レベルを用いて、前記第2データに対して軟判定を行う判定部とを含み、それによってメモリ装置のデータを読み出しおよび書き込むときの誤り比率を減らすことができる。
請求項（抜粋）：
メモリセルアレイと、
前記メモリセルアレイから第1チャネルを経由して第1データを読み出し、前記第1チャネルの特性に基づいて設定された第1個数の判定レベルを用いて、前記第1データに対して硬判定および軟判定のうちの少なくとも1つを行い、前記メモリセルアレイから第2チャネルを経由して第2データを読み出し、前記第2チャネルの特性に基づいて設定された第2個数の判定レベルを用いて、前記第2データに対して軟判定を行う判定部と、
を含むことを特徴とするメモリ装置。
IPC (3件)：
G11C 29/42
, G11C 16/02
, G11C 16/06
G11C29/00 631Z
, G11C17/00 641
, G11C17/00 639Z
5B125BA01
, 5B125BA19
, 5B125CA14
, 5B125DA09
, 5B125DE08
, 5B125DE09
, 5B125FA05
, 5L106AA10
, 5L106BB12
, 5L106EE01
, 5L106EE02
, 5L106FF04
, 5L106FF05
