特許
J-GLOBAL ID：201203042726493532

自動分析装置

発明者：
有賀 洋一

有賀 洋一 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について


代理人 (1件)： 筒井 大和
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-257450
公開番号（公開出願番号）：特開2012-108010
出願日： 2010年11月18日
公開日（公表日）： 2012年06月07日
要約：
【課題】一度使用した試薬を装置外で保管し装置に再設置した場合でも、精度管理試料やキャリブレーションの測定の操作を低減させ、オペレーターの負担を軽減することができる自動分析装置を提供する。【解決手段】自動分析装置において、試薬を収容する試薬ボトルを複数設置する試薬テーブルと、試薬ボトルの精度管理に関する設定情報およびキャリブレーションに関する設定情報を前記試薬ボトルごとに記憶する制御部とを備え、試薬テーブルへの試薬ボトルの設置情報および精度管理に関する設定情報およびキャリブレーションに関する設定情報に基づいて、試薬テーブルに一度設置された試薬ボトルが、試薬テーブルから取り除かれ、再度試薬テーブルに設置された場合に、試薬ボトルに対して精度管理試料の測定を促す画面またはキャリブレーションを促す画面を表示する。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
反応容器に生体試料と試薬を分注し、それらの反応液を分析することにより、前記生体試料の成分を分析する自動分析装置であって、 前記試薬を収容する試薬ボトルを複数設置する試薬テーブルと、 前記試薬ボトルの精度管理に関する設定情報および精度管理結果を前記試薬ボトルごとに記憶するデータベースと、 前記試薬テーブルへの前記試薬ボトルの設置情報および前記精度管理に関する設定情報に基づいて、前記試薬テーブルに一度設置された前記試薬ボトルが、前記試薬テーブルから取り除かれ、再度前記試薬テーブルに設置された場合に、前記試薬ボトルに対して精度管理試料の測定を促す画面を表示部に表示させる制御部とを備えたことを特徴とする自動分析装置。
IPC (1件)：
G01N 35/00
FI (2件)：
G01N35/00 C ,  G01N35/00 A
Fターム (3件)：
2G058GC08 ,  2G058GD02 ,  2G058GE09
引用特許：
出願人引用 (16件)
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審査官引用 (4件)
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