特許
J-GLOBAL ID:201303060096329122

半導体装置及び半導体装置の製造装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 福森 久夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-076349
公開番号(公開出願番号):特開2013-175744
出願日: 2013年04月01日
公開日(公表日): 2013年09月05日
要約:
【課題】大気中でも製造可能であり、製造が容易であり、かつ、高い結晶配向性を有する単結晶薄膜を形成することが可能な薄膜の製造方法を提供すること。【解決手段】基体1上の薄膜材料を含む液状体2に側部界面3を形成し、かつ、側部界面3の位置を移動しつつ、液状体2から薄膜材料の結晶を基体1上に成長させる。側部界面3の位置を結晶の成長速度に合わせて移動させる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
基体上の薄膜材料を含む反磁性である液状体に、基体表面に対して直角方向の磁場により形成される側部界面は、 該薄膜材料の結晶が該基体上に、該側部界面の中心から放射状に規則正しく並びながら成長している薄膜により形成されていることを特徴とする半導体装置。
IPC (5件):
H01L 21/336 ,  H01L 29/786 ,  H01L 21/368 ,  H01L 51/05 ,  H01L 51/40
FI (6件):
H01L29/78 618A ,  H01L21/368 L ,  H01L29/78 618B ,  H01L29/28 100A ,  H01L29/28 310J ,  H01L29/28 310L
Fターム (18件):
4H006AA03 ,  4H006AB91 ,  5F053DD19 ,  5F053FF01 ,  5F053GG01 ,  5F053HH01 ,  5F053HH02 ,  5F053HH04 ,  5F053HH05 ,  5F053LL10 ,  5F110AA16 ,  5F110BB01 ,  5F110CC07 ,  5F110DD05 ,  5F110EE08 ,  5F110FF02 ,  5F110GG05 ,  5F110GG42
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (4件)
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