特許
J-GLOBAL ID:201403021253757089
パワーオーバーレイ構造およびその製造方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
荒川 聡志
, 小倉 博
, 黒川 俊久
, 田中 拓人
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-048290
公開番号(公開出願番号):特開2014-179612
出願日: 2014年03月12日
公開日(公表日): 2014年09月25日
要約:
【課題】改善されたサーマルインターフェースを有するPOL構造を提供すること。【解決手段】半導体デバイスモジュールが、誘電層と、誘電層に結合された第1の表面を有する半導体デバイスと、誘電層に結合された第1の表面を有する導電性シムと、を含む。半導体デバイスは、また、半導体デバイスの第2の表面と導電性シムの第2の表面とに結合された第1の表面を有する導電性ヒートスプレッダを含む。メタライゼーション層が、半導体デバイスの第1の表面と導電性シムの第1の表面とに結合されている。このメタライゼーション層は、誘電層を通って延び、導電性シムとヒートスプレッダとによって半導体デバイスの第2の表面に電気的に接続されている。【選択図】図1
請求項(抜粋):
誘電層と、
前記誘電層に結合された第1の表面を有する半導体デバイスと、
前記誘電層に結合された第1の表面を有する導電性シムと、
前記半導体デバイスの第2の表面と前記導電性シムの第2の表面とに結合された第1の表面を有する導電性ヒートスプレッダと、
前記半導体デバイスの前記第1の表面と前記導電性シムの前記第1の表面とに結合されており、前記誘電層を通って延び、前記導電性シムと前記ヒートスプレッダとによって前記半導体デバイスの前記第2の表面に電気的に接続されているメタライゼーション層と
を備えている半導体デバイスモジュール。
IPC (5件):
H01L 23/29
, H01L 25/07
, H01L 25/18
, H01L 23/36
, H01L 23/12
FI (4件):
H01L23/36 A
, H01L25/04 C
, H01L23/36 D
, H01L23/12 501P
Fターム (10件):
5F136BA04
, 5F136BB18
, 5F136BC07
, 5F136DA42
, 5F136EA13
, 5F136EA23
, 5F136FA02
, 5F136FA03
, 5F136FA23
, 5F136FA63
引用特許:
審査官引用 (9件)
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半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-322180
出願人:富士通株式会社
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半導体モジュール
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-027066
出願人:株式会社東芝
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半導体モジュール
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-253140
出願人:株式会社東芝
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