特許
J-GLOBAL ID：201403053637642598
試料の固定化方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-193566
公開番号（公開出願番号）：特開2014-048241
出願日： 2012年09月03日
公開日（公表日）： 2014年03月17日
要約：
【課題】電子顕微鏡での観察に供することができる試料を作製するために、導電性基板上に試料を固定化する方法を提供する。【解決手段】導電性基板を少なくとも一方の電極として含む電極対に電圧を印加することによって、試料とは逆の電荷を有するイオンを導電性基板上に分散させ、上記イオンを介して試料を導電性基板上に固定化する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
電荷を有する試料を導電性基板上に固定化する、試料の固定化方法であって、
上記導電性基板を少なくとも一方の電極として含む電極対の間に、上記試料とは逆の電荷を有するイオンを含むイオン溶液を配置するイオン供給工程と、
上記電極対に電圧を印加することによって、上記試料とは逆の電荷を有するイオンを上記導電性基板上に誘引するとともに分散させるイオン分散工程と、
上記イオン溶液に含まれる溶媒を除去する第1溶媒除去工程と、
上記イオンが分散された上記導電性基板上に、上記試料を含む試料溶液を配置し、上記イオンを介して上記試料を上記導電性基板上に固定化する試料固定化工程と、
上記試料溶液に含まれる溶媒を除去する第2溶媒除去工程と、を含んでいることを特徴とする試料の固定化方法。
IPC (1件)：
FI (2件)：
Fターム (6件)：
2G052AA28
, 2G052AB18
, 2G052AB20
, 2G052AD34
, 2G052DA33
, 2G052GA35
出願人引用 (8件)
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電場が作用するHOPG基板におけるDNAの自己集合化
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DNA imaged on a HOPG electrode surface by AFM with controlled potential
-
Substrate preparation for reliable imaging of DNA molecules with the sacnning force microscope
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