特許
J-GLOBAL ID:201503015515647474
光線入射装置および反射光測定装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
細田 益稔
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-193742
公開番号(公開出願番号):特開2014-119448
特許番号:特許第5809674号
出願日: 2013年09月19日
公開日(公表日): 2014年06月30日
請求項(抜粋):
【請求項1】 平行光線を受け、被測定物の一点に前記平行光線を収束させる光線収束器と、
前記平行光線を前記光線収束器に与える光線付与器と、
前記収束光線が前記一点において反射された反射光線の進行方向を変化させ、平行に進行する反射平行光線とする平行化器と、
前記反射平行光線を受けて直角に進行方向を変化させ、進行方向変化光線とする進行方向変化器と、
を備え、
前記光線付与器と、前記進行方向変化器とが一体であり、
前記光線収束器が前記平行光線を受ける受光部位に応じて、前記被測定物と前記平行光線が収束した収束光線との間の角度が変化し、
前記光線付与器は、前記受光部位を変化させることができ、
前記光線付与器は、平行に進行する入射光線を受けて直角に進行方向を変化させて、前記平行光線とするものであり、
前記光線付与器が、回転移動しないで、前記平行光線に対して平行に移動することにより、前記受光部位を変化させることができる、
光線入射装置。
IPC (1件):
FI (1件):
引用特許:
出願人引用 (11件)
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反射式散乱計
公報種別:公開公報
出願番号:特願2008-256583
出願人:財団法人工業技術研究院
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ビーム走査式画像生成装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2008-103800
出願人:イムラアメリカインコーポレイテッド
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特開昭58-117438
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審査官引用 (13件)
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反射式散乱計
公報種別:公開公報
出願番号:特願2008-256583
出願人:財団法人工業技術研究院
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微細構造化表面での角度依存回折効果の高速測定装置
公報種別:公表公報
出願番号:特願2000-608160
出願人:インフィネオンテクノロジースエスシー300ゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツングウントコンパニーコマンディートゲゼルシャフト, フラウンホーファー-ゲゼルシャフトツルフェルデルングデルアンゲヴァンテンフォルシュングエーファウ
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テラヘルツ波発生装置とその高速同調方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-187735
出願人:理化学研究所
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照明装置及びこれを備える顕微鏡
公報種別:公開公報
出願番号:特願2009-063906
出願人:株式会社ニコン
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ビーム走査式画像生成装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2008-103800
出願人:イムラアメリカインコーポレイテッド
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特開昭58-117438
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特開昭58-117438
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フーリエ変換分光位相変調偏光解析法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-147411
出願人:日本電子株式会社
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非接触膜厚測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2009-022464
出願人:アイシン精機株式会社
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検査対象物の組成画像をリアルタイムで提供する方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-057176
出願人:ルーセントテクノロジーズインコーポレイテッド
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分光光度計
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-093958
出願人:株式会社島津製作所
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特開平4-212005
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特開平4-212005
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