ナノ構造の変形、破壊、および変換に基づくモニタリング装置およびモニタリング方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：八田国際特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-147151
公開番号（公開出願番号）：特開2016-028238
出願日： 2015年07月24日
公開日（公表日）： 2016年02月25日
要約：

【課題】ナノ構造の物理的破壊、化学的破壊、および生物学的破壊に基づくデバイスを提供する。【解決手段】基板53上にナノ構造体であるナノワイヤ51および端子54を有する2つのの電極52からなるデバイスで構成される。ナノ構造体の特性は、その周辺環境(エネルギー、電磁放射線、圧力、磁性など)の変化よって、ナノ構造サイズなどが減少など、その特性に急激な変化が起こるので、端子54を介して分析機器でナノ構造体の特性変化を検知し、その特性変化に基づき、周辺環境変化をモニタリングする。【選択図】図5

請求項（抜粋）：

ナノ構造と、前記ナノ構造の破壊時の前記ナノ構造の特性の変化を測定する手段と、を含む指示システム。

IPC (5件)：

G01T 1/02 , A61L 2/06 , A61L 2/07 , A61L 2/14 , A61L 2/20

FI (8件)：

G01T1/02 B , A61L2/06 , A61L2/07 , A61L2/14 , A61L2/20 , A61L2/20 102 , A61L2/20 104 , A61L2/20 106

Fターム (11件)：

4C058AA01 , 4C058BB04 , 4C058BB05 , 4C058BB06 , 4C058BB07 , 4C058DD01 , 4C058DD14 , 4C058JJ13 , 4C058JJ15 , 4C058JJ16 , 4C058KK06

引用特許：

審査官引用 (19件)

センサおよびこの製造方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2004-233607 出願人：松下電工株式会社
水素センサ
公報種別：公開公報出願番号：特願2007-311384 出願人：セイコーインスツル株式会社
ナノチューブの切断方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2006-079409 出願人：国立大学法人徳島大学

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