Pat
J-GLOBAL ID:200903003539536804
回路設計情報表示装置及びコンピュータプログラム
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
佐藤 強
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007168958
Publication number (International publication number):2009009284
Application date: Jun. 27, 2007
Publication date: Jan. 15, 2009
Summary:
【課題】回路動作のシミュレーション結果に問題がある場合、その原因となっている配線の特定が容易となるように情報を提示できる回路設計情報表示装置を提供する。【解決手段】回路設計情報表示装置11は、回路のレイアウトデータ1より、同一の配線層内,又は異なる配線層間で隣接する2つの配線ノード間に属する寄生素子の情報を抽出し、それら2つの配線ノード並びに寄生容量素子の情報を含む寄生容量リスト17を生成し、ディスプレイ15に寄生容量リスト17を表示する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
回路のレイアウトデータより、同一の配線層内又は異なる配線層間において隣接する2つの配線ノード間に属する寄生素子の情報を抽出し、前記2つの配線ノード並びに前記寄生素子情報を含む寄生素子情報リストを生成する情報リスト生成手段と、
前記寄生素子情報リストを表示する表示手段とを備えることを特徴とする回路設計情報表示装置。
IPC (2):
FI (3):
G06F17/50 672Z
, G06F17/50 666L
, H01L21/82 C
F-Term (16):
5B046AA08
, 5B046BA04
, 5B046JA01
, 5F064CC12
, 5F064EE22
, 5F064EE27
, 5F064EE33
, 5F064EE42
, 5F064EE43
, 5F064EE44
, 5F064HH06
, 5F064HH08
, 5F064HH09
, 5F064HH13
, 5F064HH14
, 5F064HH15
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
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レイアウト検証装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-235933
Applicant:株式会社ルネサスLSIデザイン
Cited by examiner (8)
-
設計支援装置および設計支援プログラム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-079249
Applicant:株式会社デンソー
-
半導体装置の設計方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-274644
Applicant:旭化成マイクロシステム株式会社
-
回路表示装置及び回路表示方法及び回路表示プログラム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-143475
Applicant:松下電器産業株式会社
-
半導体集積回路の寄生情報表示装置および寄生情報表示方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-425205
Applicant:松下電器産業株式会社
-
半導体装置設計プログラム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-024557
Applicant:NECエレクトロニクス株式会社
-
クロストーク検証装置およびクロストーク検証方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-359263
Applicant:松下電器産業株式会社
-
特開平4-042374
-
集積回路設計装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-346789
Applicant:ソニー株式会社
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