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J-GLOBAL ID:200903003898751508

レーザ照射装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 高橋 敬四郎 ,  来山 幹雄 ,  鵜飼 伸一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007178414
Publication number (International publication number):2007288219
Application date: Jul. 06, 2007
Publication date: Nov. 01, 2007
Summary:
【課題】表層に不純物が添加された半導体基板の基板表面から深い位置に存在する不純物の活性化を行うことができる不純物活性化方法に用いることができるレーザ照射装置を提供する。【解決手段】レーザ照射装置は、パルスレーザビームである第1のレーザビームを出射する第1のレーザ光源と、連続波レーザビームまたはパルスレーザビームである第2のレーザビームを出射する第2のレーザ光源と、入射したレーザビームのビーム断面形状の整形及びビーム断面内の光強度分布の均一化の少なくとも一方を行う回折光学素子と、前記第1のレーザビームと前記第2のレーザビームとを、前記回折光学素子のレーザビームを入射させる表面の相互に異なる位置に入射させる入射光学系とを有する。【選択図】図6
Claim (excerpt):
パルスレーザビームである第1のレーザビームを出射する第1のレーザ光源と、 連続波レーザビームまたはパルスレーザビームである第2のレーザビームを出射する第2のレーザ光源と、 入射したレーザビームのビーム断面形状の整形及びビーム断面内の光強度分布の均一化の少なくとも一方を行う回折光学素子と、 前記第1のレーザビームと前記第2のレーザビームとを、前記回折光学素子のレーザビームを入射させる表面の相互に異なる位置に入射させる入射光学系と を有するレーザ照射装置。
IPC (1):
H01L 21/268
FI (1):
H01L21/268 J
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2) Cited by examiner (10)
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