Pat
J-GLOBAL ID:200903005321135746
炭化窒化珪素膜の形成方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004122536
Publication number (International publication number):2005310861
Application date: Apr. 19, 2004
Publication date: Nov. 04, 2005
Summary:
【解決課題】 炭化窒化珪素膜を形成する新規な方法を提供すること。【解決手段】 少なくとも珪素、炭素、窒素原子を含むガスを温度が400°Cを超える加熱体に接触させて該ガスの少なくとも一部を反応または分解し、該加熱体よりも低温に保持された基材上に膜を形成することを特徴とする炭化窒化珪素膜の形成方法、好ましくは少なくとも珪素、炭素、窒素原子を含むガスが水素原子を含み、該炭化窒化珪素膜が水素を含むものである炭化窒化珪素膜の形成方法、及び該方法により形成された炭化窒化珪素膜、並びに該炭化窒化珪素膜を銅拡散バリア膜に用いた銅配線構造。【選択図】なし
Claim (excerpt):
少なくとも珪素、炭素、窒素原子を含むガスを温度が400°Cを超える加熱体に接触させて該ガスの少なくとも一部を反応または分解し、該加熱体よりも低温に保持された基材上に膜を形成することを特徴とする炭化窒化珪素膜の形成方法。
IPC (3):
H01L21/318
, C23C16/42
, H01L21/768
FI (3):
H01L21/318 B
, C23C16/42
, H01L21/90 K
F-Term (34):
4K030AA06
, 4K030AA09
, 4K030AA13
, 4K030AA16
, 4K030BA29
, 4K030BA41
, 4K030CA02
, 4K030CA04
, 4K030CA05
, 4K030CA06
, 4K030CA07
, 4K030CA12
, 4K030FA10
, 4K030FA17
, 4K030LA15
, 5F033GG01
, 5F033GG03
, 5F033GG04
, 5F033HH11
, 5F033RR05
, 5F033SS01
, 5F033SS03
, 5F033SS11
, 5F033XX28
, 5F058AA10
, 5F058AC03
, 5F058AD05
, 5F058AF02
, 5F058AH02
, 5F058BA05
, 5F058BC08
, 5F058BF04
, 5F058BF30
, 5F058BJ02
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
-
EP0540084A号公報
-
無定形SiNC被膜を蒸着する方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-287998
Applicant:ダウ・コ-ニング・コ-ポレ-ション
-
特開昭63-40314号公報
-
特開昭61-276976号公報
Show all
Cited by examiner (8)
-
半導体装置およびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-237734
Applicant:NECエレクトロニクス株式会社
-
特開昭63-040314
-
膜形成方法、膜、及び素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-186525
Applicant:中山弘, 株式会社トリケミカル研究所
-
シリコン窒化膜の成膜方法、成膜装置、及び半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-112321
Applicant:三菱電機株式会社
-
半導体装置の保護膜形成方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-284351
Applicant:川崎製鉄株式会社
-
シリコン窒化膜の形成方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-058214
Applicant:株式会社半導体先端テクノロジーズ, 株式会社アルバック
-
半導体装置及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-274427
Applicant:東京エレクトロン株式会社
-
半導体製造方法及び半導体製造装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-097831
Applicant:東京エレクトロン株式会社
Show all
Return to Previous Page