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J-GLOBAL ID:200903009998920143
走査型プロ-ブ顕微鏡(SPM)プロ-ブ及びSPM装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
林 敬之助
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999153937
Publication number (International publication number):2000065718
Application date: Jun. 01, 1999
Publication date: Mar. 03, 2000
Summary:
【要約】【課題】 ピエゾ抵抗体を設けたSPMプローブから構成され且つ試料の表面電位を測定することのできるSPMプローブを提供する。【解決手段】 ピエゾ抵抗体20の設けられたSPMプローブにおいて、探針12表面に金属膜22を被覆して導電性を持たせ、さらに、金属膜22から導電層24を配線して一方の電極とする。これにより、他方の電極となる試料と、探針との間に電圧を印加することが可能になる。よって、ピエゾ抵抗体によるSPMプローブの撓み量検出による試料表面と探針との間の相互作用の計測が可能になるとともに、試料表面の表面電位の計測を、煩雑な位置調整を必要とする検出器を使用せずに可能となる。
Claim (excerpt):
先鋭化された探針を先端に設けたレバー部と該レバー部を支持する支持部とから構成されるSPMプローブにおいて、前記探針とその近傍に導電膜を被覆したことを特徴とするSPMプローブ。
IPC (3):
G01N 13/16
, G01N 13/12
, G01B 21/30
FI (3):
G01N 37/00 G
, G01N 37/00 C
, G01B 21/30 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (13)
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局所電荷分布測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-005348
Applicant:三菱電機株式会社
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プローブ装置及び微小領域に対する電気的接続方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-213187
Applicant:株式会社ニコン
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集積型SPMセンサー
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-023059
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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集積型AFMセンサー
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-256855
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
AFMカンチレバー及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-291273
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
力検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-259522
Applicant:株式会社リコー
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力変位センサ付カンチレバー
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-119302
Applicant:セイコーインスツルメンツ株式会社
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特開平4-238203
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カンチレバー
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-008087
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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特開平4-238203
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半導体装置の生産方法およびそれに使用される識別コード付け方法並びに装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-315535
Applicant:株式会社日立製作所, 日立超エル・エス・アイ・エンジニアリング株式会社
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半導体素子及び半導体素子の搭載方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-345599
Applicant:京セラ株式会社
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集積型SPMセンサ及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-244866
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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