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J-GLOBAL ID：200903026327776953

垂直加速型飛行時間型質量分析装置

Inventor：
小林達次

About 小林達次


Applicant, Patent owner：
日本電子株式会社

About 日本電子株式会社


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004208910
Publication number (International publication number)：2006032109
Application date： Jul. 15, 2004
Publication date： Feb. 02, 2006
Summary：
【課題】イオン源側真空領域内のイオン軌道部周辺の部品を大気中に取り出して、洗浄等の操作を行なっても、短時間で装置の再使用が可能となり、また、アイソレーション・バルブを設けても、安定した測定が可能となるようなOA-TOFMSを提供する。【解決手段】イオン源と、イオン源で発生したイオンを輸送させる空間とを配置した、真空度の低い第1の領域と、該領域から輸送されてきたイオンをパルス的に加速して取り出すためのイオン溜と、該イオン溜から取り出されたイオンを質量分離する飛行時間型分光部とを配置した、真空度の高い第2の領域とを備えた垂直加速型飛行時間型質量分析装置において、前記2つの領域を連通する孔部に隔離弁を設け、両領域を遮断できるようにした。【選択図】 図4
Claim (excerpt)：
イオン源と、イオン源で発生したイオンを輸送させる空間とを配置した、真空度の低い第1の領域と、 該領域から輸送されてきたイオンをパルス的に加速して取り出すためのイオン溜と、該イオン溜から取り出されたイオンを質量分離する飛行時間型分光部とを配置した、真空度の高い第2の領域と を備えた垂直加速型飛行時間型質量分析装置において、 前記2つの領域を連通する孔部に隔離弁を設け、両領域を遮断できるようにしたことを特徴とする垂直加速型飛行時間型質量分析装置。
IPC (5)：
H01J 49/40 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/06 ,  H01J 49/10 ,  H01J 49/24
FI (5)：
H01J49/40 ,  G01N27/62 K ,  H01J49/06 ,  H01J49/10 ,  H01J49/24
F-Term (5)：
5C038FF13 ,  5C038GG01 ,  5C038GG04 ,  5C038GG06 ,  5C038GG09
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (7)
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