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J-GLOBAL ID:200903032037698053
半導体装置及びその製造方法
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
岡本 啓三
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003340404
Publication number (International publication number):2005109133
Application date: Sep. 30, 2003
Publication date: Apr. 21, 2005
Summary:
【課題】 素子で発生する熱を効果的に放熱することができる半導体装置及びその製造方法を提供すること。【解決手段】 SiC基板1と、SiC基板1中の孔1d内に形成され、炭素元素の線状構造体により構成される熱伝導体4とを有することを特徴とする半導体装置による。【選択図】 図3
Claim (excerpt):
SiC基板と、
前記SiC基板中の孔内に形成され、炭素元素の線状構造体により構成される熱伝導体と
を有することを特徴とする半導体装置。
IPC (4):
H01L23/34
, H01L21/338
, H01L29/778
, H01L29/812
FI (2):
H01L23/34 A
, H01L29/80 H
F-Term (25):
5F036AA01
, 5F036BA23
, 5F036BB18
, 5F036BD11
, 5F102FA00
, 5F102GB02
, 5F102GC02
, 5F102GD01
, 5F102GJ03
, 5F102GJ05
, 5F102GJ10
, 5F102GK01
, 5F102GL04
, 5F102GM04
, 5F102GM07
, 5F102GQ01
, 5F102GR06
, 5F102HC00
, 5F102HC01
, 5F102HC02
, 5F102HC11
, 5F102HC15
, 5F102HC16
, 5F102HC19
, 5F102HC21
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
Cited by examiner (10)
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半導体装置およびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-128093
Applicant:日本電気株式会社
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半導体装置及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-207425
Applicant:三菱電機株式会社
-
集積回路装置及び集積回路装置製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-135322
Applicant:富士通株式会社
-
電界効果トランジスタ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-178432
Applicant:日本鉱業株式会社
-
SiC半導体素子
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-077213
Applicant:株式会社東芝
-
電子装置及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-295115
Applicant:株式会社東芝
-
電界効果トランジスタ及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-279301
Applicant:株式会社東芝
-
半導体装置及びその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-248735
Applicant:サンケン電気株式会社
-
高出力半導体デバイスおよびその設計方法ならびに半導体集積回路
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-064867
Applicant:株式会社村田製作所
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柱状カーボン構造物の選択成長方法及び電子デバイス
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-074254
Applicant:富士通株式会社
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