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J-GLOBAL ID:200903032037698053

半導体装置及びその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 岡本 啓三
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003340404
Publication number (International publication number):2005109133
Application date: Sep. 30, 2003
Publication date: Apr. 21, 2005
Summary:
【課題】 素子で発生する熱を効果的に放熱することができる半導体装置及びその製造方法を提供すること。【解決手段】 SiC基板1と、SiC基板1中の孔1d内に形成され、炭素元素の線状構造体により構成される熱伝導体4とを有することを特徴とする半導体装置による。【選択図】 図3
Claim (excerpt):
SiC基板と、 前記SiC基板中の孔内に形成され、炭素元素の線状構造体により構成される熱伝導体と を有することを特徴とする半導体装置。
IPC (4):
H01L23/34 ,  H01L21/338 ,  H01L29/778 ,  H01L29/812
FI (2):
H01L23/34 A ,  H01L29/80 H
F-Term (25):
5F036AA01 ,  5F036BA23 ,  5F036BB18 ,  5F036BD11 ,  5F102FA00 ,  5F102GB02 ,  5F102GC02 ,  5F102GD01 ,  5F102GJ03 ,  5F102GJ05 ,  5F102GJ10 ,  5F102GK01 ,  5F102GL04 ,  5F102GM04 ,  5F102GM07 ,  5F102GQ01 ,  5F102GR06 ,  5F102HC00 ,  5F102HC01 ,  5F102HC02 ,  5F102HC11 ,  5F102HC15 ,  5F102HC16 ,  5F102HC19 ,  5F102HC21
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2) Cited by examiner (10)
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