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J-GLOBAL ID:200903042176759755

計測システムおよび計測方法並びに把持装置制御システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (6): 角田 嘉宏 ,  古川 安航 ,  西谷 俊男 ,  幅 慶司 ,  内山 泉 ,  是枝 洋介
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004229665
Publication number (International publication number):2006047145
Application date: Aug. 05, 2004
Publication date: Feb. 16, 2006
Summary:
【課題】 既存の分布型圧力センサにより得られた計測対象物と押圧部との圧力分布の情報を基に、計測対象物の特性を測定可能な計測システムを提供する。【解決手段】 計測システム100は、押圧部10に所定押圧により計測対象物30を接触させる際に、前記計測対象物30と前記押圧部10との間に発生する圧力に対応する信号を測定する圧力センサ20と、前記圧力センサ20から出力された前記信号に基づき前記計測対象物30の前記押圧部10に対する圧力分布を取得する制御装置16とを備え、前記制御装置16は、前記計測対象物30の前記押圧部10への接触開始時点から複数の異なる経過時における前記圧力分布を測定して、前記経過時に対応する各圧力分布からなる圧力分布群を取得する一方、前記圧力分布群に基づき前記計測対象物30の特性を測定する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
計測対象物を押圧部に所定押圧により接触する際に、前記計測対象物と前記押圧部との間に発生する圧力に対応する信号を測定すると共に、 前記計測対象物の前記押圧部への接触開始時点から複数の異なる経過時における前記信号に基づく前記計測対象物の前記押圧部に対する圧力分布を測定し、 前記経過時に対応する各圧力分布からなる圧力分布群として取得し、前記圧力分布群に基づき前記計測対象物の特性を測定する計測方法。
IPC (5):
G01N 3/40 ,  B25J 13/08 ,  B25J 19/02 ,  G01N 3/00 ,  G01N 3/08
FI (5):
G01N3/40 E ,  B25J13/08 Z ,  B25J19/02 ,  G01N3/00 A ,  G01N3/08
F-Term (12):
2G061AA02 ,  2G061AB01 ,  2G061CB02 ,  2G061CC01 ,  2G061EA05 ,  2G061EB03 ,  3C007KS34 ,  3C007KV06 ,  3C007KW04 ,  3C007KX08 ,  3C007LV06 ,  3C007LV10
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (7)
  • シリコン触覚センサ装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2002-327084   Applicant:独立行政法人科学技術振興機構
  • 直接教示装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-262087   Applicant:日本電信電話株式会社
  • 特許第2569433号
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