Pat
J-GLOBAL ID:200903051920765032
新規光酸発生剤並びにこれを用いたレジスト材料及びパターン形成方法
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (4):
小島 隆司
, 重松 沙織
, 小林 克成
, 石川 武史
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008219101
Publication number (International publication number):2009080474
Application date: Aug. 28, 2008
Publication date: Apr. 16, 2009
Summary:
【解決手段】紫外線、遠紫外線、電子線、EUV、X線、エキシマレーザー、γ線、又はシンクロトロン放射線の高エネルギー線に感応し、下記一般式(1a)又は(1c)のいずれかで示されるスルホン酸を発生する化学増幅型レジスト材料用の光酸発生剤。R1-COOCH(CF3)CF2SO3- H+ (1a)R1-O-COOCH(CF3)CF2SO3- H+ (1c)(R1はステロイド骨格を有する炭素数20〜50の炭化水素基を示す。)【効果】本発明の光酸発生剤は、レジスト材料中の樹脂類との相溶性がよく、酸拡散制御を行うことができる。また、これらスルホン酸を発生する光酸発生剤はデバイス作製工程での塗布、露光前焼成、露光、露光後焼成、現像の工程に問題なく使用できる。【選択図】なし
Claim (excerpt):
紫外線、遠紫外線、電子線、EUV、X線、エキシマレーザー、γ線、又はシンクロトロン放射線の高エネルギー線に感応し、下記一般式(1a)又は(1c)のいずれかで示されるスルホン酸を発生する化学増幅型レジスト材料用の光酸発生剤。
R1-COOCH(CF3)CF2SO3- H+ (1a)
R1-O-COOCH(CF3)CF2SO3- H+ (1c)
(式中、R1はステロイド骨格を有する炭素数20〜50の炭化水素基を示す。)
IPC (5):
G03F 7/004
, G03F 7/039
, G03F 7/075
, G03F 7/38
, H01L 21/027
FI (6):
G03F7/004 503A
, G03F7/004 501
, G03F7/039 601
, G03F7/075 511
, G03F7/38 501
, H01L21/30 502R
F-Term (59):
2H025AA02
, 2H025AB16
, 2H025AC01
, 2H025AC04
, 2H025AC05
, 2H025AC06
, 2H025AC08
, 2H025AD01
, 2H025AD03
, 2H025BE00
, 2H025BE07
, 2H025BE10
, 2H025BF02
, 2H025BF08
, 2H025BF11
, 2H025BF15
, 2H025BF29
, 2H025BF30
, 2H025BG00
, 2H025CC04
, 2H025CC20
, 2H025DA34
, 2H025FA17
, 2H096AA25
, 2H096BA06
, 2H096BA11
, 2H096CA06
, 2H096DA10
, 2H096EA02
, 2H096EA05
, 2H096EA06
, 2H096EA07
, 2H096GA09
, 4C091AA02
, 4C091BB01
, 4C091BB06
, 4C091CC01
, 4C091DD01
, 4C091EE05
, 4C091EE07
, 4C091FF01
, 4C091GG01
, 4C091GG02
, 4C091GG13
, 4C091HH01
, 4C091JJ03
, 4C091KK01
, 4C091LL01
, 4C091LL02
, 4C091LL09
, 4C091MM03
, 4C091NN01
, 4C091PA02
, 4C091PA05
, 4C091PB04
, 4C091PB05
, 4C091QQ01
, 4C091RR10
, 4C091SS01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (10)
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