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J-GLOBAL ID:200903052484629442

中間基板とその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 北村 修一郎 ,  山▲崎▼ 徹也
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2008507893
Publication number (International publication number):2008538658
Application date: Apr. 21, 2006
Publication date: Oct. 30, 2008
Summary:
中間基板は、III族窒化物半導体層などの化合物半導体層のエピタキシャル成長に適した薄層に接合したハンドル基板を含む。ハンドル基板は、モリブデンまたはモリブデン合金の基板などの金属または合金の基板でよく、薄層はサファイア層でもよい。中間基板の製造方法は、ソース基板中に弱いインターフェースを形成し、ソース基板をハンドル基板に接合し、薄層がハンドル基板に接合したままにしてソース基板から薄層を剥離することを含む。
Claim (excerpt):
中間基板であって、金属または合金を含むハンドル基板に接合する化合物半導体材料のエピタキシャル成長に適した薄層を備える中間基板。
IPC (2):
H01L 33/00 ,  H01L 21/205
FI (2):
H01L33/00 C ,  H01L21/205
F-Term (23):
5F041AA32 ,  5F041AA40 ,  5F041CA10 ,  5F041CA22 ,  5F041CA40 ,  5F041CA71 ,  5F041CB15 ,  5F045AA02 ,  5F045AA04 ,  5F045AB14 ,  5F045AB17 ,  5F045AC12 ,  5F045AC13 ,  5F045AD14 ,  5F045AD15 ,  5F045AD16 ,  5F045AF04 ,  5F045AF11 ,  5F045AF12 ,  5F045BB08 ,  5F045CA09 ,  5F045DA53 ,  5F045DA55
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (12)
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