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J-GLOBAL ID:200903093979276579

アモルファス酸化物半導体膜を用いた薄膜トランジスタの製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 西山 恵三 ,  内尾 裕一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006226698
Publication number (International publication number):2008053356
Application date: Aug. 23, 2006
Publication date: Mar. 06, 2008
Summary:
【課題】 プロセスマージンが広く、特性に優れ、且つ信頼性の高い酸化物薄膜トランジスタを作成する。【解決手段】 アモルファス酸化物半導体膜からなる活性層を備えた薄膜トランジスタの製造方法であって、 前記活性層を形成する工程は、 導入酸素分圧が1×10-3Pa以下の雰囲気中で前記酸化膜を形成する第1の工程と、 前記第1の工程後、酸化雰囲気中で熱処理を行う第2の工程と、を含む。【選択図】 図6
Claim (excerpt):
In又はZnの少なくとも一方の元素を含むアモルファス酸化物半導体膜からなる活性層を備えた薄膜トランジスタの製造方法であって、 前記活性層を形成する工程は、 導入酸素分圧が1×10-3Pa以下の雰囲気中で前記酸化膜を形成する第1の工程と、 前記第1の工程後、酸化雰囲気中で熱処理を行う第2の工程と、 を含むことを特徴とする薄膜トランジスタの製造方法。
IPC (7):
H01L 29/786 ,  H01L 21/336 ,  C23C 14/08 ,  C23C 14/54 ,  C23C 14/58 ,  H01L 21/363 ,  H01L 21/203
FI (7):
H01L29/78 618B ,  H01L29/78 618A ,  C23C14/08 K ,  C23C14/54 B ,  C23C14/58 A ,  H01L21/363 ,  H01L21/203 S
F-Term (59):
4K029AA09 ,  4K029AA24 ,  4K029BA50 ,  4K029BB10 ,  4K029BD01 ,  4K029CA05 ,  4K029DC05 ,  4K029DC09 ,  4K029DC35 ,  4K029EA03 ,  4K029EA08 ,  4K029GA00 ,  4K029GA01 ,  5F103AA08 ,  5F103DD30 ,  5F103GG03 ,  5F103HH01 ,  5F103HH04 ,  5F103HH05 ,  5F103LL07 ,  5F103NN04 ,  5F103NN05 ,  5F103PP03 ,  5F103RR04 ,  5F103RR05 ,  5F103RR07 ,  5F110AA16 ,  5F110CC05 ,  5F110CC07 ,  5F110DD01 ,  5F110DD02 ,  5F110EE02 ,  5F110EE03 ,  5F110EE04 ,  5F110EE07 ,  5F110EE14 ,  5F110EE43 ,  5F110FF01 ,  5F110FF02 ,  5F110FF27 ,  5F110FF28 ,  5F110GG04 ,  5F110GG15 ,  5F110GG28 ,  5F110GG29 ,  5F110GG42 ,  5F110GG43 ,  5F110GG58 ,  5F110HK02 ,  5F110HK03 ,  5F110HK04 ,  5F110HK21 ,  5F110HK32 ,  5F110NN01 ,  5F110NN22 ,  5F110NN23 ,  5F110NN34 ,  5F110NN35 ,  5F110QQ14
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (8)
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Cited by examiner (4)
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