Pat
J-GLOBAL ID:200903094661034920
集積回路及び当該集積回路をテストするための方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
津軽 進
, 宮崎 昭彦
, 青木 宏義
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2003504543
Publication number (International publication number):2004521352
Application date: Jun. 10, 2002
Publication date: Jul. 15, 2004
Summary:
本発明による集積回路が、自身の動作モードをセットするための制御信号(n、s、t)を受信するための第一の入力部(2a、2b、2c)を有する複数のユニット(C1、C2、C3、C4;1)を有する。前記ユニットは、ファンクショナルモードと、スキャンインモードと、スキャンアウトモードとを有する。ファンクショナルモード(n=1、s=0、t=1)において論理動作が一つ又はそれより多くの第二の入力部(4a、4b)において受信される信号で行われる。当該論理動作の結果は、内部ノード(6)を介して出力部(10)にもたらされる。スキャンインモード(n=0、s=1、t=0)においてスキャン入力部における値が内部ノード(6)に記憶される。スキャンアウトモード(n=0、s=0、t=1)において内部ノード(6)における値が出力部(10)にもたらされる。本発明による集積回路は、入力信号(a、b)での前記論理動作の結果が、内部ノード(6)に記憶されると共に前記ユニットの出力部(10)がディスエーブルされる評価モードを更に有する。
Claim (excerpt):
自身の動作モードをセットするための制御信号を受信するための第一の入力部を有する複数のユニットを有する集積回路であって、前記ユニットは、ファンクショナルモードと、スキャンインモードと、スキャンアウトモードとを有し、
前記ファンクショナルモードにおいて、論理動作が、一つ又はそれより多くの第二の入力部において受信される信号で行われ、当該論理動作の結果が内部ノードを介して出力部にもたらされ、
前記スキャンインモードにおいて、スキャン入力部における値が前記内部ノードに記憶され、
前記スキャンアウトモードにおいて、前記内部ノードにおける前記値が前記出力部にもたらされる
集積回路において、前記入力信号での前記論理動作の結果が、前記内部ノードに記憶されると共に、前記ユニットの前記出力部がディスエーブルされる評価モードを更に有することを特徴とする集積回路。
IPC (4):
G01R31/28
, H01L21/822
, H01L27/04
, H03K19/00
FI (3):
G01R31/28 G
, H03K19/00 B
, H01L27/04 T
F-Term (23):
2G132AA01
, 2G132AA06
, 2G132AB01
, 2G132AC14
, 2G132AK07
, 2G132AK14
, 2G132AK23
, 2G132AL00
, 2G132AL03
, 5F038DT06
, 5F038DT17
, 5F038EZ20
, 5J056AA03
, 5J056BB51
, 5J056BB60
, 5J056CC00
, 5J056CC16
, 5J056DD13
, 5J056DD29
, 5J056EE07
, 5J056EE12
, 5J056FF07
, 5J056FF10
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (9)
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デュアルラッチのクロックドLSSDおよび方法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平7-501753
Applicant:ブイ・エル・エス・アイ・テクノロジー・インコーポレイテッド
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特開昭62-214374
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スキャンテスト回路およびそれを含む半導体集積回路装 置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-124893
Applicant:日本電気株式会社
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半導体集積回路
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-239816
Applicant:沖電気工業株式会社
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差動カスコード電圧スイッチ回路
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-099407
Applicant:インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション
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集積回路の遅延故障検出方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-021984
Applicant:松下電器産業株式会社
-
テスト対象の半導体記憶回路を備えた半導体装置及び半導体記憶回路のテスト方法及び半導体記憶回路の読み出し回路。
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-235270
Applicant:沖電気工業株式会社
-
自己同期論理回路
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-017260
Applicant:株式会社日立製作所
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非同期2線2相式スキャン回路及び診断方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-060574
Applicant:株式会社日立製作所
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Cited by examiner (10)
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