液晶表示素子評価法及び評価装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：稲垣清
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：1999345107
Publication number (International publication number)：2001165809
Patent number：3535786
Application date： Dec. 03, 1999
Publication date： Jun. 22, 2001
Claim (excerpt)：

【請求項1】偏光した入射光を液晶表示素子に入射させ、前記入射光の偏光方向と前記液晶表示素子の方位との間の角度である相対角度を連続的に変化させ、複数の前記相対角度において、前記液晶表示素子を透過した後の透過光のうち所定波長の偏光状態を測定することにより、前記偏光状態の前記相対角度に対する依存性の実測値を記録する第1ステップと、前記液晶表示素子において仮想ツイスト角と仮想セルギャップとを仮定し、該仮想ツイスト角と該仮想セルギャップと前記所定波長とを用いて、前記偏光状態の前記相対角度に対する依存性の計算値を求める第2ステップと、前記実測値と前記計算値との間の誤差を計算する第3ステップと、前記仮想ツイスト角と前記仮想セルギャップとを変化させながら前記第2ステップと前記第3ステップを繰り返し行い、前記誤差が最小となったときの前記仮想ツイスト角と前記仮想セルギャップを、前記液晶表示素子のツイスト角とセルギャップとして同時に決定する第4ステップとを含むことを特徴とする液晶表示素子評価方法。

IPC (4)：

G01M 11/00 , G01N 21/21 , G01N 21/27 , G02F 1/13 101

FI (4)：

G01M 11/00 T , G01N 21/21 Z , G01N 21/27 Z , G02F 1/13 101

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (8)

液晶セルパラメータ検出方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-248824 Applicant：佐藤進, 名菱テクニカ株式会社
液晶初期配向角測定方法及び液晶初期配向角測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-331715 Applicant：日本電気株式会社
異方性薄膜評価方法および評価装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-115266 Applicant：日本電気株式会社

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