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J-GLOBAL ID:201403041415324573

下地剤及びパターン形成方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 棚井 澄雄 ,  志賀 正武 ,  鈴木 三義 ,  五十嵐 光永
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2013260594
Publication number (International publication number):2014185318
Application date: Dec. 17, 2013
Publication date: Oct. 02, 2014
Summary:
【課題】下地剤、及び該下地剤を用いたブロックコポリマーを含む層のパターン形成方法の提供。【解決手段】基板1上に形成した複数種類のブロックが結合したブロックコポリマー3を含む層を相分離させるために用いられる下地剤2であって、樹脂成分を含有し、該樹脂成分が、芳香族基を有する構成単位と、ヒドロキシアルキル基を有する構成単位と、芳香族基及びヒドロキシアルキル基を有しない構成単位と、を含むことを特徴とする下地剤。【選択図】図1
Claim (excerpt):
基板上に形成した複数種類のブロックが結合したブロックコポリマーを含む層を相分離させるために用いられる下地剤であって、 樹脂成分を含有し、該樹脂成分が、 芳香族基を有する構成単位と、 ヒドロキシアルキル基を有する構成単位と、 芳香族基及びヒドロキシアルキル基を有しない構成単位と、 を含むことを特徴とする下地剤。
IPC (7):
C09D 201/00 ,  B82Y 30/00 ,  B82Y 40/00 ,  C09D 5/00 ,  B05D 5/04 ,  B05D 7/24 ,  B05D 1/36
FI (7):
C09D201/00 ,  B82Y30/00 ,  B82Y40/00 ,  C09D5/00 D ,  B05D5/04 ,  B05D7/24 302E ,  B05D1/36 Z
F-Term (18):
4D075AE03 ,  4D075BB21Z ,  4D075CB38 ,  4D075DA06 ,  4D075DB14 ,  4D075DC22 ,  4D075EA41 ,  4D075EB11 ,  4D075EB14 ,  4D075EB22 ,  4J038CC021 ,  4J038CC071 ,  4J038CG031 ,  4J038CG041 ,  4J038CG171 ,  4J038GA03 ,  4J038PB09 ,  4J038PB11
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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