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J-GLOBAL ID:201503043596116870
紫外線を用いたコンフォーマルな膜蒸着の方法
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
特許業務法人明成国際特許事務所
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2014554825
Publication number (International publication number):2015510263
Application date: Jan. 24, 2013
Publication date: Apr. 02, 2015
Summary:
【解決手段】窒化ケイ素(SiN)材料、及び、SiCN(SiNCとも表記する)膜、SiON膜及びSiONC膜などの炭素含有及び/又は酸素含有膜を含む他のケイ素含有膜を基板上に形成する方法を記載する。様々な実施形態において、この方法は、1つ又は複数の反応物質の電磁放射線を用いた活性化を含む。ある実施形態において、たとえば、この方法は、気相アミン共反応物質の紫外線(UV)活性化を含む。この方法を用いて、約400°C未満の温度でSiN膜及びSiCN膜などのケイ素含有膜を蒸着することができる。【選択図】図6
Claim (excerpt):
反応チャンバに基板を提供する工程と、1回又は複数回の蒸着サイクルを実行してケイ素含有膜を蒸着する工程と、を備える方法であって、
各サイクルは、
(a)窒素含有反応物質の気相流に前記基板を曝露し、
(b)ケイ素含有反応物質の気相流に前記基板を曝露し、
(c)前記窒素含有反応物質の気相流に紫外線を照射するとともに、前記ケイ素含有反応物質の気相流には紫外線を照射しない
方法。
IPC (5):
H01L 21/318
, C23C 16/42
, H01L 21/314
, H01L 21/316
, H01L 21/31
FI (7):
H01L21/318 B
, C23C16/42
, H01L21/314 A
, H01L21/316 X
, H01L21/318 C
, H01L21/31 B
, H01L21/31 C
F-Term (57):
4K030AA06
, 4K030AA09
, 4K030AA13
, 4K030BA29
, 4K030BA35
, 4K030BA40
, 4K030BA41
, 4K030EA01
, 4K030FA01
, 4K030FA08
, 4K030FA15
, 4K030HA01
, 4K030KA41
, 4K030LA02
, 4K030LA15
, 5F045AA08
, 5F045AA09
, 5F045AA12
, 5F045AA13
, 5F045AA15
, 5F045AB32
, 5F045AB33
, 5F045AB34
, 5F045AC03
, 5F045AC05
, 5F045AC07
, 5F045AC11
, 5F045AC12
, 5F045AC15
, 5F045AC16
, 5F045AC17
, 5F045AD07
, 5F045AD08
, 5F045BB07
, 5F045DP03
, 5F045EE08
, 5F045EE19
, 5F045EH01
, 5F045EH13
, 5F045EH18
, 5F045EK07
, 5F058BA20
, 5F058BC02
, 5F058BC08
, 5F058BC10
, 5F058BC11
, 5F058BC12
, 5F058BF04
, 5F058BF05
, 5F058BF07
, 5F058BF08
, 5F058BF23
, 5F058BF24
, 5F058BF27
, 5F058BF29
, 5F058BF30
, 5F058BF37
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (12)
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紫外線照射による高品質シリコン窒化膜の成膜方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-123639
Applicant:株式会社東芝
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薄膜形成方法及び薄膜形成装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-249590
Applicant:株式会社日立製作所
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半導体デバイス、その製造装置及び製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2009-186634
Applicant:株式会社ADEKA, 株式会社ナノマテリアル研究所
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ケイ素含有膜の周期的プラズマ化学気相堆積
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2008-043910
Applicant:エアプロダクツアンドケミカルズインコーポレイテッド
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半導体装置の製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2010-206362
Applicant:株式会社日立国際電気
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薄膜トランジスタおよびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-083770
Applicant:株式会社東芝
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応力制御を伴う窒化シリコン膜
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2007-520460
Applicant:アプライドマテリアルズインコーポレイテッド
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Gazette classification:公開公報
Application number:特願2009-259203
Applicant:エアプロダクツアンドケミカルズインコーポレイテッド
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シリコン窒化膜の形成方法及び形成装置
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Application number:特願2000-189434
Applicant:東京エレクトロン株式会社
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Application number:特願2004-338459
Applicant:株式会社半導体先端テクノロジーズ, レール・リキード-ソシエテ・アノニム・ア・ディレクトワール・エ・コンセイユ・ドゥ・スールベイランス・プール・レテュード・エ・レクスプロワタシオン・デ・プロセデ・ジョルジュ・クロード
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シリコン含有膜堆積用の前駆体及びその製造及び使用方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2009-184479
Applicant:エアプロダクツアンドケミカルズインコーポレイテッド
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ビス(t-ブチルアミノ)シランからの窒化珪素の化学気相成長法
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Application number:特願平10-281036
Applicant:エアー.プロダクツ.アンド.ケミカルス.インコーポレーテッド
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