特許
J-GLOBAL ID：200903011497509014

3次元形状測定方法および校正用物体

発明者：
鈴木 浩之

鈴木 浩之 について

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鈴木 敏

鈴木 敏 について

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加藤 昭英

加藤 昭英 について


出願人/特許権者：
パルステック工業株式会社

パルステック工業株式会社 について


代理人 (1件)： 特許業務法人プロスペック特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-355783
公開番号（公開出願番号）：特開2008-164493
出願日： 2006年12月28日
公開日（公表日）： 2008年07月17日
要約：
【課題】 測定カメラ4R,4Lを長尺状の測定対象物OBに対して長軸方向に移動させて測定対象物OBの3次元形状を測定する場合において、測定精度のよい3次元形状測定を行うことができる3次元形状測定方法を提供すること。【解決手段】 校正用物体10を長軸方向に沿って複数に区分し、各領域に基準座標系上で定義された少なくとも2つの基準平面(平面a,b,e,f)と、基準座標系上で少なくとも1つの基準点(頂点d,h)を定義可能な基準形状(切り込み平面c,g)とを設ける。この校正用物体10を測定し、区分された領域ごとに座標変換関数を計算する。そして、測定対象物OBも校正用物体10と同じように長軸方向に領域を区分し、点群データを区分した領域ごとに、その領域に対応する座標変換関数を用いて座標変換する。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
ライン光を測定対象物に照射する照射装置を用いて長尺状の測定対象物の3次元形状を測定する3次元形状測定方法において、 長軸方向に沿って複数に区分された領域を有し、且つ、前記領域のそれぞれに、1つの前記照射装置から照射されるライン光の照射範囲あたりに基準座標系上で定義された少なくとも2つの基準平面および、基準座標系上で少なくとも1つの基準点を定義可能な基準形状が設けられた長尺状の校正用物体に、前記照射装置から前記校正用物体の長軸に対して垂直な方向に拡がるライン光を照射しながら前記照射装置を前記校正用物体の長軸方向に沿った所定方向に移動するとともに、前記校正用物体に照射されたライン光の反射光を受光することにより、前記少なくとも2つの基準平面および前記基準形状を表す座標値の点群データをカメラ座標系にて取得する第1座標値取得ステップと、 前記少なくとも2つの基準平面および前記基準点を基準座標系上で定義した値と、前記第1座標値取得ステップにて取得された座標値の点群データとに基づいて、カメラ座標系における座標値を基準座標系における座標値に変換するための座標変換関数を前記領域ごとに計算する座標変換関数計算ステップと、 長尺状の測定対象物に、前記照射装置から前記長尺状の測定対象物の長軸に対して垂直な方向に広がるライン光を照射しながら前記照射装置を前記長尺状の測定対象物の長軸方向に沿った前記所定方向に移動するとともに、前記長尺状の測定対象物に照射されたライン光の反射光を受光することにより、前記長尺状の測定対象物の表面形状を表す座標値の点群データをカメラ座標系にて取得する第2座標値取得ステップと、 前記第2座標値取得ステップにて取得された座標値の点群データを、前記校正用物体の区分された領域に対応する領域ごとに前記領域に対応する座標変換関数を用いて基準座標系における点群データに座標変換する座標変換ステップと、 を含むことを特徴とする、3次元形状測定方法。
IPC (2件)：
G01B 11/24 ,  G06T 1/00
FI (2件)：
G01B11/24 K ,  G06T1/00 315
Fターム (37件)：
2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065BB28 ,  2F065DD03 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065FF61 ,  2F065GG04 ,  2F065HH05 ,  2F065HH13 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065MM07 ,  2F065PP02 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ25 ,  2F065UU05 ,  2F065UU07 ,  5B057AA01 ,  5B057BA02 ,  5B057BA17 ,  5B057BA19 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CC02 ,  5B057CD14 ,  5B057CE08 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC32 ,  5B057DC36
引用特許：
出願人引用 (12件)
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審査官引用 (11件)
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