特許
J-GLOBAL ID：200903018315761354

X線検査装置、X線検査方法およびX線検査プログラム

発明者：
寺本 篤司

寺本 篤司 について

, 
村越 貴行

村越 貴行 について


出願人/特許権者：
名古屋電機工業株式会社

名古屋電機工業株式会社 について


代理人 (1件)： 岩上 渉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-308517
公開番号（公開出願番号）：特開2007-114150
出願日： 2005年10月24日
公開日（公表日）： 2007年05月10日
要約：
【課題】X線検査装置の検査精度を向上することが望まれていた。【解決手段】X線によって検査対象を検査するにあたり、X線を検査対象品に照射して複数の方向から撮影した複数のX線画像を取得し、上記複数のX線画像に基づいて再構成演算を実行して検査対象品の3次元画像を取得し、上記取得した3次元画像に基づいて良否の特徴が現れる特徴量を算出し、当該特徴量に基づいて良否判定を行う。【選択図】図5
請求項（抜粋）：
X線を検査対象品に照射して複数の方向から撮影した複数のX線画像を取得するX線画像取得手段と、 上記複数のX線画像に基づいて再構成演算を実行して検査対象品の3次元画像を取得する3次元画像取得手段と、 上記取得した3次元画像に基づいて良否の特徴が現れる特徴量を算出し、当該特徴量に基づいて良否判定を行う良否判定手段とを備えることを特徴とするX線検査装置。
IPC (1件)：
G01N 23/04
FI (1件)：
G01N23/04
Fターム (11件)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001GA13 ,  2G001HA07 ,  2G001HA13 ,  2G001JA06 ,  2G001KA03 ,  2G001LA11 ,  2G001MA05
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 半田形状の検査方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-091180   出願人：名古屋電機工業株式会社
審査官引用 (13件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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