特許
J-GLOBAL ID：200903027945928604
品質解析方法、品質解析装置、コンピュータプログラム、及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
國分 孝悦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-070025
公開番号（公開出願番号）：特開2006-252342
出願日： 2005年03月11日
公開日（公表日）： 2006年09月21日
要約：
【課題】 複数工程での処理を経て生産される製品に品質欠陥が発生したときに、簡潔な処理で精度良く原因工程を推定する。【解決手段】 品質上の欠陥が生じた製品に対して、工程ごとに該製品の前後に処理された複数製品の品質に関するデータを、処理順序に従って一定製品個数分だけ並べ、解析対象とする各製品の品質上の欠陥の、該製品の品質上の欠陥との類似度を評価、計算し、前記欠陥類似度の高い製品が最も高い連続性をもって発生している工程を原因工程であると推定する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
製造工場において複数工程での処理を経て生産される製品の品質上の欠陥について原因工程を推定する品質解析方法であって、
品質上の欠陥が生じた製品(基準製品)に対して、工程ごとに基準製品の前後に処理された複数製品の品質に関するデータを入力するデータ入力ステップと、
前記データ入力ステップにて入力した前記品質に関するデータを蓄積、保存するデータ蓄積ステップと、
工程ごとに、基準製品の前及び/又は後に処理された前記複数製品の品質に関するデータを、処理順序に従って一連の所定の製品個数分だけ並べて解析対象データを得るデータソートステップと、
前記解析対象データについて、各製品の品質上の欠陥と基準製品の品質上の欠陥との類似度を評価、計算する欠陥類似度計算ステップと、
前記欠陥類似度の高い製品が最も高い連続性をもって発生している工程を原因工程であると推定する原因工程推定ステップと、
前記推定結果を出力し、表示する出力・表示ステップとを有することを特徴とする品質解析方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (5件)：
3C100AA58
, 3C100BB27
, 3C100CC07
, 3C100CC11
, 3C100EE10
出願人引用 (12件)
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審査官引用 (10件)
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