特許
J-GLOBAL ID：200903040158288920

複合視点検査装置及び製造方法

発明者：
小林 茂樹

小林 茂樹 について


出願人/特許権者：
小林 茂樹

小林 茂樹 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-153620
公開番号（公開出願番号）：特開2004-354265
出願日： 2003年05月30日
公開日（公表日）： 2004年12月16日
要約：
【課題】従来のプリント基板実装検査装置普及の最大の障害であった、ユーザによる基板種ごとの教示作業を実際的に不要化あるいは最小限化するための装置を提供する。【解決手段】複合視点検査装置は、プリント基板への部品の実装品質検査を、検査領域(ウィンドウ)教示の不要な1次元センサによるプリント基板の全面異常検出と、立体視撮像又は立体視検査の複合視の検査で行い、全面異常検出で部品実装品質の検査を行い、さらに異常箇所を立体視撮像したりあるいは立体視検査して、LSI部品はんだ検査や無鉛はんだ検査を行い、プリント基板への部品実装検査を完結する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
先ず部品実装基板の全面を撮像して異常箇所を検出し、次にそれらの異常箇所を斜め上方からの立体視視点で撮像し、立体視画像を品質の良否判定と品質データ保存に利用する複合視点検査装置であって、 対象基板データを教示する教示手段と、 基板を回転して位置決めするターンテーブルと、 ターンテーブルを1次元に位置決めする位置決め装置と、 ターンテーブルを1次元に位置決めしながらターンテーブル上の基板の全面画像を1次元イメージセンサが獲得する全面撮像手段と、 データ保存手段と、 保存した検体基板の全面画像と基準基板の全面画像の差分画像処理によって得られた両基板の異同箇所から異常箇所を抽出する異常抽出手段と、 異常箇所に全面撮像座標値を添付する座標化手段と、 表示手段と、 異常箇所の座標値に応じてターンテーブルを回転し、ターンテーブル上の基板の異常箇所に視線方向を向けて立体視画像を獲得する立体視撮像手段と、 立体視撮像手段が有する座標値と全面撮像手段の座標値を照合する座標照合手段と、 入力手段と、 出力手段と、 1枚の部品実装基板について、全面撮像して異常箇所を検出した後、それらの異常箇所を立体視撮像し、得られた立体視画像を表示して品質良否判定に提供し、必要とされる立体視画像とその座標値データを保存する、一連のシステムシーケンス動作を統合制御する制御手段と を備え、 検査対象領域(即ちウィンドウ)教示の不要化と立体視画像による良否判定作業と基板品質データとしての立体視画像保存を実現したことを特徴とする複合視点検査装置。
IPC (5件)：
G01N21/956 ,  G06T1/00 ,  H05K3/34 ,  H05K13/00 ,  H05K13/08
FI (5件)：
G01N21/956 B ,  G06T1/00 305A ,  H05K3/34 512B ,  H05K13/00 Z ,  H05K13/08 U
Fターム (42件)：
2G051AA65 ,  2G051AB02 ,  2G051AB07 ,  2G051AB14 ,  2G051AC02 ,  2G051AC21 ,  2G051CA03 ,  2G051CD04 ,  2G051DA07 ,  2G051EA08 ,  2G051EA11 ,  2G051EA12 ,  2G051EA16 ,  2G051EA19 ,  2G051ED05 ,  2G051ED21 ,  2G051ED23 ,  5B057AA03 ,  5B057BA02 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CC03 ,  5B057CH08 ,  5B057DA03 ,  5B057DA08 ,  5B057DB03 ,  5B057DC05 ,  5B057DC33 ,  5E313AA01 ,  5E313AA11 ,  5E313CC04 ,  5E313FG06 ,  5E313FG08 ,  5E313FG10 ,  5E319AA02 ,  5E319AA03 ,  5E319AC01 ,  5E319BB01 ,  5E319CC22 ,  5E319CD35 ,  5E319CD53 ,  5E319GG15
引用特許：
審査官引用 (12件)
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