特許
J-GLOBAL ID:200903055445051793

炭化珪素半導体基板及びその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 中島 淳 ,  加藤 和詳 ,  西元 勝一 ,  福田 浩志
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-108746
公開番号(公開出願番号):特開2005-294611
出願日: 2004年04月01日
公開日(公表日): 2005年10月20日
要約:
【課題】 半導体素子層中の欠陥が少ない基板の製造方法の提供。【解決手段】 炭化珪素基板上に、ゲルマニウムをドープした炭化ケイ素バッファー層を設け、かつ、該バッファー層上に半導体素子層を設けることを特徴とする炭化珪素半導体基板の製造方法。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
炭化珪素基板上に、ゲルマニウムをドープした炭化ケイ素バッファー層を設け、かつ、該バッファー層上に半導体素子層を設けることを特徴とする炭化珪素半導体基板の製造方法。
IPC (8件):
H01L21/205 ,  H01L21/20 ,  H01L21/331 ,  H01L21/338 ,  H01L29/167 ,  H01L29/737 ,  H01L29/778 ,  H01L29/812
FI (5件):
H01L21/205 ,  H01L21/20 ,  H01L29/167 ,  H01L29/72 H ,  H01L29/80 H
Fターム (34件):
5F003BH05 ,  5F003BM01 ,  5F003BP31 ,  5F003BP41 ,  5F045AA03 ,  5F045AB06 ,  5F045AC01 ,  5F045AC07 ,  5F045AC19 ,  5F045AD18 ,  5F045AF02 ,  5F045BB12 ,  5F045CA07 ,  5F045DA53 ,  5F045DA59 ,  5F052GC10 ,  5F052JA05 ,  5F052KA05 ,  5F102GB01 ,  5F102GC01 ,  5F102GD01 ,  5F102GJ01 ,  5F102GJ02 ,  5F102GK02 ,  5F102GL02 ,  5F102GM02 ,  5F102GN02 ,  5F102GQ03 ,  5F102GS02 ,  5F102GT03 ,  5F102HC01 ,  5F102HC11 ,  5F102HC15 ,  5F102HC21
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (8件)
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