特許
J-GLOBAL ID:200903061231133806

測定装置および測定ユニット

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 柳田 征史 ,  佐久間 剛
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-069177
公開番号(公開出願番号):特開2005-257455
出願日: 2004年03月11日
公開日(公表日): 2005年09月22日
要約:
【課題】 試料を供給する流路を選択的に使用可能な測定装置および測定チップにおいて、1つの測定チップ内で2種類の測定を同時に行うことを可能とし、また、測定チップ内に試料を溜めて行う通常の測定に加え、測定チップ内に試料を連続的に供給して行う測定も可能とする。 【解決手段】 測定チップ9の金属膜12を2つの領域12aおよび12bに分け、そのうちの一方の領域12b上にセンシング物質30が固定する。また、測定チップ9の試料保持部10c内に、液体試料を供給するための供給路52および液体試料を排出するための排出路53を備えた流路ユニット50を取り付け、金属膜12およびセンシング物質30上に流路を形成する。測定時には、流路ユニット50により金属膜12上に液体試料11を供給し、誘電体ブロック10と金属膜12の領域12aとの界面10a、および誘電体ブロック10と金属膜12の領域12bとの界面10bに対して、並列的に光ビーム13を入射させて測定を行う。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
光ビームを発生させる光源と、 前記光ビームに対して透明な誘電体ブロック、該誘電体ブロックの一面に形成される薄膜層、および該薄膜層の表面上に試料を保持可能に形成された試料保持機構を備えてなり、前記薄膜層が前記表面上に特性の異なる2つの領域を有する、ウェル形状の測定チップと、 前記薄膜層の前記表面上に前記試料を供給する供給路、および前記表面上から前記試料を排出する排出路を備え、前記ウェル形状の測定チップに出入自在に装填される流路ユニットと、 前記薄膜層の異なる2つの領域のうちの一方の領域と前記誘電体ブロックとの第1界面、および前記2つの領域のうちの他方の領域と前記誘電体ブロックとの第2界面の各々に対して、全反射条件が得られる角度で並列的に前記光ビームを入射させる光学系と、 前記第1界面および前記第2界面で全反射した光ビームの強度を各々独立して検出する光検出手段と、 該光検出手段の検出結果に基づいて、前記薄膜層上の測定対象物の屈折率情報を求める屈折率情報取得手段とを備えてなることを特徴とする測定装置。
IPC (3件):
G01N21/27 ,  G01N21/05 ,  G01N21/11
FI (3件):
G01N21/27 C ,  G01N21/05 ,  G01N21/11
Fターム (31件):
2G057AA02 ,  2G057AB07 ,  2G057AC01 ,  2G057BA05 ,  2G057BB01 ,  2G057BB06 ,  2G057GA00 ,  2G057GA04 ,  2G059AA01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB04 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059DD12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059FF08 ,  2G059GG01 ,  2G059GG04 ,  2G059GG10 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM03 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059MM11
引用特許:
出願人引用 (2件) 審査官引用 (14件)
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