特許
J-GLOBAL ID:200903078396062644

シリコン・オン・インシュレータ基板上に形成された薄膜相変化メモリ・セル、その形成方法、および1つ以上のメモリ・セルを含む集積回路

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 上野 剛史 ,  太佐 種一 ,  市位 嘉宏 ,  坂口 博
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-216287
公開番号(公開出願番号):特開2008-060569
出願日: 2007年08月22日
公開日(公表日): 2008年03月13日
要約:
【課題】メモリ・セルは、半導体フィーチャおよび相変化材料を含む。【解決手段】半導体フィーチャは、半導体フィーチャを第1の電極および第2の電極に分割する溝を画成する。相変化材料は、少なくとも部分的にこの溝を満たし、第1および第2の電極を電気的に結合するように働く。相変化材料の少なくとも一部は、第1および第2の電極のうちの少なくとも1つに対して加えられるスイッチング信号に呼応して、低電気抵抗状態と高電気抵抗状態を切り換えるように作動する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
半導体フィーチャを第1の電極および第2の電極に分割する溝を画成する前記半導体フィーチャと、 前記溝を少なくとも部分的に満たし、かつ前記第1および第2の電極を電気的に結合する相変化材料とを含み、 前記相変化材料の少なくとも一部が、前記第1および第2の電極のうちの少なくとも1つに対して加えられるスイッチング信号に呼応して、低電気抵抗状態と高電気抵抗状態を切り換えるように作動する、メモリ・セル。
IPC (2件):
H01L 27/105 ,  H01L 45/00
FI (2件):
H01L27/10 448 ,  H01L45/00 A
Fターム (14件):
5F083FZ10 ,  5F083GA05 ,  5F083HA02 ,  5F083HA08 ,  5F083JA36 ,  5F083JA37 ,  5F083JA39 ,  5F083JA60 ,  5F083MA06 ,  5F083MA19 ,  5F083PR06 ,  5F083PR40 ,  5F083ZA21 ,  5F083ZA23
引用特許:
審査官引用 (9件)
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