円筒物の形状測定装置及び測定方法

発明者： , , ,
出願人/特許権者： , ,
代理人 (1件)：石田敬 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-053732
公開番号（公開出願番号）：特開2000-249540
出願日： 1999年03月02日
公開日（公表日）： 2000年09月14日
要約：

【要約】【課題】 Vブロック法を改良して、測定精度を向上させ、円筒度も測定できるようにし、更に円筒物に傷が発生しないようにする。【解決手段】円筒物1の形状を測定する円筒物の形状測定装置であって、円筒物を回転させる回転手段45,46 と、円筒物の所定断面における外形の第1の方向に垂直な接線の変位を検出する第1の接線変位検出手段31,32 と、第2の接線変位検出手段34,35 と、第3の接線変位検出手段37,38 と、被測定物の回転位置と、検出した第1から第3の方向に垂直な接線の変位とから、被測定物1の断面における外形形状を演算する演算手段とを備える。

請求項（抜粋）：

円筒状の被測定物の形状を測定する円筒物の形状測定装置であって、前記被測定物をほぼ軸心を中心として回転させる回転手段と、前記被測定物の回転角度位置を検出する回転角度位置検出手段と、前記被測定物の所定断面における外形の第1の方向に垂直な接線の変位を検出する第1の接線変位検出手段と、前記被測定物の所定断面における外形の第2の方向に垂直な接線の変位を検出する第2の接線変位検出手段と、前記被測定物の所定断面における外形の第3の方向に垂直な接線の変位を検出する第3の接線変位検出手段と、前記第1から第3の接線変位検出手段の検出した前記第1から第3の方向に垂直な接線の変位と、前記回転角度位置検出手段の検出した前記被測定物の回転角度位置とから、前記被測定物の前記所定断面における外形形状を演算する演算手段とを備えることを特徴とする円筒物の形状測定装置。

IPC (2件)：

G01B 21/20 , G01B 11/24

FI (2件)：

G01B 21/20 C , G01B 11/24 A

Fターム (49件)：

2F065AA48 , 2F065BB06 , 2F065BB24 , 2F065DD03 , 2F065DD06 , 2F065FF02 , 2F065GG04 , 2F065GG15 , 2F065HH03 , 2F065HH14 , 2F065JJ03 , 2F065JJ05 , 2F065JJ08 , 2F065JJ26 , 2F065MM04 , 2F065MM12 , 2F065MM16 , 2F065MM26 , 2F065NN16 , 2F065PP13 , 2F065QQ17 , 2F065QQ21 , 2F065RR05 , 2F065TT02 , 2F065UU07 , 2F069AA56 , 2F069BB07 , 2F069CC05 , 2F069DD16 , 2F069DD19 , 2F069DD25 , 2F069GG07 , 2F069GG15 , 2F069GG39 , 2F069GG52 , 2F069GG56 , 2F069GG58 , 2F069GG77 , 2F069HH09 , 2F069JJ02 , 2F069JJ17 , 2F069JJ26 , 2F069MM01 , 2F069MM11 , 2F069MM23 , 2F069MM31 , 2F069NN19 , 2F069PP02 , 2F069QQ05

引用特許：

出願人引用 (10件)

円筒形状の測定方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-294757 出願人：三菱重工業株式会社
円筒状物の表面形状測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-007991 出願人：東芝ケミカル株式会社
感光体の表面変位測定方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-144664 出願人：富士電機株式会社

全件表示

審査官引用 (12件)

円筒形状の測定方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-294757 出願人：三菱重工業株式会社
円筒状物体の曲りと外径と真円度の同時測定方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-034706 出願人：新日本製鐵株式会社
円筒状物の表面形状測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-007991 出願人：東芝ケミカル株式会社

全件表示

前のページに戻る