特許
J-GLOBAL ID：201103090235767883
太陽電池評価装置および太陽電池評価方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
松阪 正弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-017288
公開番号（公開出願番号）：特開2011-155225
出願日： 2010年01月28日
公開日（公表日）： 2011年08月11日
要約：
【課題】太陽電池の電気特性の低下の原因を推定する。【解決手段】太陽電池評価装置1は、第1光照射部11、第2光照射部12、分光エリプソメータ13および電気測定部14を備える。太陽電池評価では、第1光照射部11が複数の太陽電池セル91を跨いで光を照射して太陽電池9を導通状態とする。第1光照射部11により光が照射されている間、第2光照射部12により、複数の太陽電池セル91の複数の測定位置のぞれぞれに光が照射され、電気測定部14により短絡電流が測定される。また、各測定位置への光照射による短絡電流が測定される毎に、分光エリプソメータ13により、当該測定位置における太陽電池セル91の複数種類の測定値が測定される。これにより、複数の測定位置に対応する短絡電流と複数種類の測定値との比較が可能となり、太陽電池9の電気特性の低下の原因が推定される。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
薄膜型太陽電池の品質を評価する太陽電池評価装置であって、
受光面に沿って配列され、直列に接続される複数の太陽電池セルに光を照射して前記複数の太陽電池セルを導通状態とする第1光照射部と、
前記複数の太陽電池セル上の複数の測定位置に局所的に光を順次照射する第2光照射部と、
前記複数の測定位置のそれぞれに光が照射された際に前記複数の太陽電池セルにて生じる電圧および電流の少なくとも一方を測定する電気測定部と、
前記複数の測定位置における、屈折率、消衰係数、膜厚、光吸収係数および表面粗度のうち少なくとも1つに対応する測定値を、光学的手法により前記複数の太陽電池セルと非接触にて取得する光学測定部と、
を備えることを特徴とする太陽電池評価装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (2件)：
引用特許：
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