特許
J-GLOBAL ID：201503010862996827
半導体装置、診断テスト方法及び診断テスト回路
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
家入 健
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-016443
公開番号（公開出願番号）：特開2015-206785
出願日： 2015年01月30日
公開日（公表日）： 2015年11月19日
要約：
【課題】故障診断による演算性能の低下を抑制すること。【解決手段】本発明に係る半導体装置90は、それぞれスキャンチェーンを有する複数のCPUコア91〜94と、CPUのスキャンチェーンを用いて複数のCPUコア91〜94のスキャンテストを実施する診断テスト回路95と、を備える。診断テスト回路95は、複数のCPUコア91〜94のそれぞれのスキャンテストを、スキャンテストの実施時間帯が相互に重複しないように所定の順序で周期的に実施する。【選択図】図33
請求項（抜粋）：
スキャンチェーンを有する複数のCPUコアと、
前記スキャンチェーンを用いて前記複数のCPUコアのスキャンテストを実施する診断テスト回路と、を備え、
前記診断テスト回路は、前記複数のCPUコアのそれぞれのスキャンテストを、前記スキャンテストの実施時間帯が相互に重複しないように所定の順序で周期的に実施する、
半導体装置。
IPC (3件)：
G01R 31/28
, G01R 31/318
, G06F 11/22
G01R31/28 W
, G01R31/28 G
, G06F11/22 360P
2G132AA03
, 2G132AB01
, 2G132AC05
, 2G132AC14
, 2G132AD06
, 2G132AG02
, 2G132AK09
, 2G132AK12
, 2G132AK14
, 2G132AK15
, 2G132AK18
, 2G132AK23
, 2G132AK29
, 2G132AL25
, 5B048AA01
, 5B048AA11
, 5B048CC14
, 5B048CC18
, 5B048DD10
, 5B048FF04
出願人引用 (11件)
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審査官引用 (11件)
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