Pat
J-GLOBAL ID:200903079575582878
ポジ型フォトレジスト組成物
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
小栗 昌平 (外4名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000206901
Publication number (International publication number):2002023372
Application date: Jul. 07, 2000
Publication date: Jan. 23, 2002
Summary:
【要約】【課題】半導体デバイスの製造において、現像欠陥の発生が軽減できるポジ型フォトレジスト組成物を提供すること。【解決手段】特定の繰り返し構造単位を含有し、酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解速度が増加する樹脂、活性光線又は放射線の照射により酸を発生する化合物を含有するポジ型フォトレジスト組成物。
Claim (excerpt):
(A)下記一般式(I)で示される繰り返し構造単位、下記一般式(II-1)で示される繰り返し構造単位、および下記一般式(II-2)で示される繰り返し構造単位を含有し、酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解速度が増加する樹脂、及び(B)活性光線又は放射線の照射により酸を発生する化合物を含有することを特徴とするポジ型フォトレジスト組成物。【化1】【化2】一般式(I)中、R11〜R14は、各々独立に水素原子又は置換基を有しても良いアルキル基を表す。aは0または1である。一般式(II-1)中、R1は、水素原子又はメチル基を表す。Aは、単結合、アルキレン基、シクロアルキレン基、エーテル基、チオエーテル基、カルボニル基、エステル基よりなる群から選択される単独あるいは2つ以上の基の組み合わせを表す。Wは、下記一般式(pI)〜(pVI)で表される脂環式炭化水素を含む部分構造のうち少なくとも1つを表す。【化3】式中、R15は、メチル基、エチル基、n-プロピル基、イソプロピル基、n-ブチル基、イソブチル基又はsec-ブチル基を表し、Zは、炭素原子とともに脂環式炭化水素基を形成するのに必要な原子団を表す。R16〜R20は、各々独立に、炭素数1〜4個の、直鎖もしくは分岐のアルキル基又は脂環式炭化水素基を表し、但し、R16〜R18のうち少なくとも1つ、もしくはR19、R20のいずれかは脂環式炭化水素基を表す。R21〜R25は、各々独立に、水素原子、炭素数1〜4個の、直鎖もしくは分岐のアルキル基又は脂環式炭化水素基を表し、但し、R21〜R25のうち少なくとも1つは脂環式炭化水素基を表す。また、R23、R25のいずれかは炭素数1〜4個の、直鎖もしくは分岐のアルキル基又は脂環式炭化水素基を表す。R26〜R29は、各々独立に、炭素数1〜4個の、直鎖もしくは分岐のアルキル基又は脂環式炭化水素基を表し、但し、R26〜R29のうち少なくとも1つは脂環式炭化水素基を表す。一般式(II-2)中、R1は前記一般式(II-1)中のR1と同義である。R2〜R4は、各々独立に水素原子又は水酸基を表す。ただし、R2〜R4のうち少なくとも1つは水酸基を表す。
IPC (11):
G03F 7/039 601
, C08K 5/00
, C08K 5/16
, C08L 27/12
, C08L 33/06
, C08L 33/14
, C08L 45/00
, C08L 83/04
, H01L 21/027
, G03F 7/004 501
, G03F 7/004 504
FI (11):
G03F 7/039 601
, C08K 5/00
, C08K 5/16
, C08L 27/12
, C08L 33/06
, C08L 33/14
, C08L 45/00
, C08L 83/04
, G03F 7/004 501
, G03F 7/004 504
, H01L 21/30 502 R
F-Term (45):
2H025AA00
, 2H025AA04
, 2H025AB16
, 2H025AC04
, 2H025AC08
, 2H025AD03
, 2H025BE00
, 2H025BG00
, 2H025CC04
, 2H025CC20
, 2H025FA03
, 2H025FA17
, 4J002BD122
, 4J002BG041
, 4J002BG051
, 4J002BG071
, 4J002BH021
, 4J002CE001
, 4J002CP032
, 4J002EB006
, 4J002ED056
, 4J002EH126
, 4J002EN136
, 4J002EQ016
, 4J002ER027
, 4J002ES006
, 4J002EU027
, 4J002EU047
, 4J002EU077
, 4J002EU117
, 4J002EU127
, 4J002EU137
, 4J002EU147
, 4J002EU186
, 4J002EU226
, 4J002EU237
, 4J002EV216
, 4J002EV246
, 4J002EV296
, 4J002EW176
, 4J002EY006
, 4J002EZ006
, 4J002FD206
, 4J002FD312
, 4J002GP03
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (10)
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化学増幅型ポジ型レジスト組成物
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-191559
Applicant:住友化学工業株式会社
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放射線感光材料及びそれを用いたパターン形成方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-282664
Applicant:ダイセル化学工業株式会社
-
化学増幅型ポジ型レジスト組成物
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-238542
Applicant:住友化学工業株式会社
-
感放射線性樹脂組成物
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-137757
Applicant:ジェイエスアール株式会社
-
化学増幅型ポジ型レジスト組成物及びスルホニウム塩
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-060057
Applicant:住友化学工業株式会社
-
化学増幅型ポジ型レジスト組成物
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-013848
Applicant:住友化学工業株式会社
-
化学増幅型ポジ型レジスト組成物
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-011292
Applicant:住友化学工業株式会社
-
化学増幅型ポジ型レジスト組成物
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-053967
Applicant:住友化学工業株式会社
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化学増幅型ポジ型レジスト組成物及びスルホニウム塩
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-184546
Applicant:住友化学工業株式会社
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遠紫外線露光用ポジ型フォトレジスト組成物
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-150215
Applicant:富士写真フイルム株式会社
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