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J-GLOBAL ID：200903085773934194

眼底観察装置、眼底画像処理装置及びプログラム

Inventor：
木川 勉

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藤村 隆

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青木 弘幸

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末廣 淳

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福間 康文

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Applicant, Patent owner：
株式会社トプコン

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Agent (1)： 三澤 正義
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007045831
Publication number (International publication number)：2008206684
Application date： Feb. 26, 2007
Publication date： Sep. 11, 2008
Summary：
【課題】被検眼の眼球光学系による倍率を高い確度で求める。【解決手段】眼底観察装置1は、低コヒーレンス光L0に基づく干渉光LCを検出し、その検出結果に基づいて眼底Efの断層画像Giを形成するOCT装置である。また、眼底観察装置1は、眼底画像Ef′を撮影する眼底カメラとしても機能する。断層画像Giや眼底画像Ef′は、被検眼Eの眼球光学系の状態を表す光学情報Vとともに記憶部212に記憶される。倍率演算部231は、光学情報Vに基づいて、被検眼Eの眼球光学系による倍率を演算する。解析部232は、断層画像Giに基づいて積算画像を形成し、この倍率に基づいて積算画像と眼底画像Ef′との位置合わせを行う。更に、解析部232は、眼底画像Ef′上に設定された計測線L1〜L3に対応する断層画像Giを計測位置として設定し、この計測位置における眼底Efの層の厚さを求める。【選択図】図7
Claim (excerpt)：
光学的にデータを取得して被検眼の眼底の断層画像を形成する画像形成手段と、 前記被検眼の眼球光学系の状態を表す光学情報を記憶する記憶手段と、 前記光学情報に基づいて前記眼球光学系による倍率を演算する演算手段と、 前記倍率に基づいて前記断層画像を解析する解析手段と、 を備えることを特徴とする眼底観察装置。
IPC (1)：
A61B 3/14
FI (1)：
A61B3/14 A
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (11)
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Cited by examiner (8)
  • 眼科撮影装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-026894   Applicant：株式会社ニデック
  • 眼科測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-311688   Applicant：興和株式会社
  • 眼科測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-160808   Applicant：興和株式会社
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