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J-GLOBAL ID:201003098036829520
補強フィーチャを有する膜支持体
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
稲葉 良幸
, 大貫 敏史
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2009551865
Publication number (International publication number):2010521656
Application date: Feb. 29, 2008
Publication date: Jun. 24, 2010
Summary:
集積支持フィーチャを有する試料支持構造体ならびに補強された膜を作製する方法およびそれを使用する方法。試料支持構造体は、電子顕微鏡法、光学顕微鏡法、X線顕微鏡法、UV-VIS分光法および核磁気共鳴(NMR)技術などの顕微鏡技術を使用する分析のための試料を支持するために有用である。
Claim (excerpt):
補強領域によって支持される観察領域の配列を含む、補強された試料支持構造体。
IPC (3):
G01N 1/28
, H01J 37/20
, C01B 33/02
FI (3):
G01N1/28 W
, H01J37/20 A
, C01B33/02 Z
F-Term (17):
2G052FA00
, 2G052GA33
, 2G052GA34
, 2G052GA35
, 4G072AA01
, 4G072BB20
, 4G072GG01
, 4G072GG04
, 4G072HH01
, 4G072NN27
, 4G072QQ20
, 4G072TT30
, 4G072UU30
, 5C001AA01
, 5C001CC01
, 5C001CC04
, 5C001CC08
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (14)
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X線透過窓部材
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-131964
Applicant:株式会社ニコン
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特開平4-066839
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ステップ・アンド・スキャン描画を含むデバイス作製
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-343913
Applicant:アメリカンテレフォンアンドテレグラフカムパニー
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