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J-GLOBAL ID:201703013473411620

導通検査方法及び導通検査装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (5): 瀧野 秀雄 ,  川崎 隆夫 ,  瀧野 文雄 ,  津田 俊明 ,  鳥野 正司
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2015114961
Publication number (International publication number):2017003316
Application date: Jun. 05, 2015
Publication date: Jan. 05, 2017
Summary:
【課題】端子金具の変形や損傷をより効果的に抑制することができる導通検査装置及び導通検査方法を提供する。【解決手段】導通検査治具20を用いて、ワイヤハーネス101のコネクタ104に収容された端子金具104aにネットワークアナライザ10に接続された検査ピン24を非接触の状態で近づけた後、ネットワークアナライザ10により端子金具104aが端末に設けられた電線102のインピーダンスの周波数特性を測定する。導通可否判定装置30が、ネットワークアナライザ10により測定した電線102のインピーダンスの周波数特性に基づいて電線102の導通を検査する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
端子金具が端末に設けられた電線の導通検査方法であって、 前記端子金具にネットワークアナライザに接続された検査ピンを非接触の状態で近づけた後、前記ネットワークアナライザにより前記電線のインピーダンスの周波数特性を測定する工程と、 前記ネットワークアナライザにより測定した前記電線のインピーダンスの周波数特性に基づいて電線の導通を検査する工程と、を含むことを特徴とする導通検査方法。
IPC (2):
G01R 31/04 ,  H01R 43/00
FI (2):
G01R31/04 ,  H01R43/00 Z
F-Term (5):
2G014AA13 ,  2G014AB38 ,  2G014AB60 ,  2G014AC07 ,  5E051GB10
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (10)
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