特許
J-GLOBAL ID:200903005408058128
X線検査装置、X線検査方法およびX線検査プログラム
発明者:
,
出願人/特許権者:
,
代理人 (2件):
横井 俊之
, 岩上 渉
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-293141
公開番号(公開出願番号):特開2006-105794
出願日: 2004年10月05日
公開日(公表日): 2006年04月20日
要約:
【課題】 自動車の部品として使用される鋳造製品など、比較的大きな製品において高精度に欠陥を検出することが困難であった。【解決手段】 鋳造製品の欠陥を検出するにあたり、X線を鋳造製品に照射し、上記鋳造製品を透過した透過X線を検出し、同検出された透過X線に基づいて上記鋳造製品が無欠陥である場合の透過X線を算出し、上記検出された透過X線と上記算出された無欠陥である場合の透過X線とを比較して上記鋳造製品の欠陥を検出する。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
X線を鋳造製品に照射するX線照射手段と、
上記鋳造製品を透過した透過X線を検出する透過X線検出手段と、
同検出された透過X線に基づいて上記鋳造製品が無欠陥である場合の透過X線を算出する無欠陥X線算出手段と、
上記検出された透過X線と上記算出された無欠陥である場合の透過X線とを比較して上記鋳造製品の欠陥を検出する欠陥検出手段とを備えることを特徴とするX線検査装置。
IPC (4件):
G01N 23/04
, B22C 9/00
, B22D 46/00
, G06T 1/00
FI (4件):
G01N23/04
, B22C9/00 E
, B22D46/00
, G06T1/00 300
Fターム (37件):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA09
, 2G001FA01
, 2G001FA06
, 2G001GA04
, 2G001GA05
, 2G001GA13
, 2G001HA12
, 2G001HA13
, 2G001JA07
, 2G001JA13
, 2G001JA16
, 2G001KA03
, 2G001LA02
, 2G001PA12
, 2G001PA16
, 2G001QA01
, 5B057AA02
, 5B057BA03
, 5B057CA02
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB02
, 5B057CB08
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057CC01
, 5B057CE12
, 5B057CH20
, 5B057DA03
, 5B057DB02
, 5B057DB05
, 5B057DB09
, 5B057DC32
引用特許:
出願人引用 (1件)
審査官引用 (13件)
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特開平4-158208
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X線異物検出方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-133871
出願人:株式会社島津製作所
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X線異物検出方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-008880
出願人:株式会社島津製作所
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