特許
J-GLOBAL ID:200903012993477897
新規スルホン酸塩及びその誘導体、光酸発生剤並びにこれを用いたレジスト材料及びパターン形成方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
小島 隆司
, 重松 沙織
, 小林 克成
, 石川 武史
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-176053
公開番号(公開出願番号):特開2008-007410
出願日: 2006年06月27日
公開日(公表日): 2008年01月17日
要約:
【解決手段】一般式(1)で示されるスルホン酸塩。(R1はC1〜20のアルキル基、又はC6〜15のアリール基又はC4〜15のヘテロアリール基。M+はリチウムイオン、ナトリウムイオン、カリウムイオン、アンモニウムイオン、又はテトラメチルアンモニウムイオン。)【効果】本発明のスルホン酸は、α,β-位がフッ素で部分置換されているため強い酸性度を示す上、様々な置換基の導入が容易であり、分子設計の幅が大きい。更に、これらスルホン酸を発生する光酸発生剤は、デバイス作製工程での各種工程に問題なく使用でき、ArF液浸露光の際の水への溶出も抑え、ウエハー上に残る水の影響も少ない。また、エステル部位が塩基性条件下で加水分解されるため、レジスト廃液を適切に処理することで、低分子量の低蓄積性化合物へと変換可能で、燃焼廃棄時の燃焼性も高い。【選択図】なし
請求項(抜粋):
下記一般式(1)で示されるスルホン酸塩。
IPC (6件):
C07C 309/12
, G03F 7/004
, H01L 21/027
, C07C 381/12
, C07C 381/00
, C07D 333/46
FI (6件):
C07C309/12
, G03F7/004 503A
, H01L21/30 502R
, C07C381/12
, C07C381/00
, C07D333/46
Fターム (18件):
2H025AA00
, 2H025AA01
, 2H025AA04
, 2H025AB16
, 2H025AC04
, 2H025AC08
, 2H025AD03
, 2H025BE00
, 2H025BE07
, 2H025BG00
, 2H025CB41
, 2H025CC03
, 2H025CC20
, 2H025FA03
, 2H025FA17
, 4H006AA01
, 4H006AA03
, 4H006AB80
引用特許:
出願人引用 (14件)
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審査官引用 (6件)
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