特許
J-GLOBAL ID:200903040362878141

パターン形成方法並びにそれに用いられる感放射線性樹脂組成物及び感放射線性酸発生基含有樹脂

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 小島 清路 ,  萩野 義昇 ,  谷口 直也
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-157873
公開番号(公開出願番号):特開2007-328060
出願日: 2006年06月06日
公開日(公表日): 2007年12月20日
要約:
【課題】電子線、X線、極紫外線による微細パターン形成に好適なパターン形成方法並びにそれに用いられる感放射線性樹脂組成物及び感放射線性酸発生基含有樹脂を提供する。【解決手段】本パターン形成方法は、感放射線性樹脂組成物の樹脂成分として含有されている感放射線性酸発生基含有樹脂から、活性光線又は放射線の照射によって酸を発生させ、該感放射線性酸発生基含有樹脂の現像液に対する溶解性を増大させることにより、レジストパターンを形成する。また、本感放射線性樹脂組成物は、樹脂成分として、活性光線又は放射線の照射により酸を発生する酸発生基を含有する繰り返し単位と、非酸解離性繰り返し単位とからなる酸発生基含有樹脂のみを含有する。【選択図】なし
請求項(抜粋):
感放射線性樹脂組成物の樹脂成分として含有されている感放射線性酸発生基含有樹脂から、活性光線又は放射線の照射によって酸を発生させ、該感放射線性酸発生基含有樹脂の現像液に対する溶解性を増大させることにより、レジストパターンを形成することを特徴とするパターン形成方法。
IPC (5件):
G03F 7/039 ,  H01L 21/027 ,  C08F 212/14 ,  C08F 220/38 ,  C08F 220/58
FI (5件):
G03F7/039 501 ,  H01L21/30 502R ,  C08F212/14 ,  C08F220/38 ,  C08F220/58
Fターム (46件):
2H025AB16 ,  2H025AC04 ,  2H025AC05 ,  2H025AC06 ,  2H025AD03 ,  2H025BE07 ,  2H025BG00 ,  2H025EA10 ,  2H025FA17 ,  4J100AB02Q ,  4J100AB03Q ,  4J100AB07P ,  4J100AB07Q ,  4J100AJ01Q ,  4J100AJ02Q ,  4J100AJ08Q ,  4J100AJ09Q ,  4J100AK31Q ,  4J100AK32Q ,  4J100AL03Q ,  4J100AL08P ,  4J100AL08Q ,  4J100AL09Q ,  4J100AL66Q ,  4J100AM17Q ,  4J100AM19Q ,  4J100AM21P ,  4J100BA03Q ,  4J100BA05Q ,  4J100BA16Q ,  4J100BA20Q ,  4J100BA56P ,  4J100BB12P ,  4J100BC02Q ,  4J100BC03Q ,  4J100BC04Q ,  4J100BC08Q ,  4J100BC09Q ,  4J100BC12Q ,  4J100BC28Q ,  4J100BC43P ,  4J100BD12P ,  4J100CA04 ,  4J100DA01 ,  4J100DA04 ,  4J100JA38
引用特許:
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (7件)
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