特許
J-GLOBAL ID:200903018194231298

ウイスカー発生抑制に優れたSnめっきまたはSn合金めっき

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 梶 良之
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-064477
公開番号(公開出願番号):特開2006-249460
出願日: 2005年03月08日
公開日(公表日): 2006年09月21日
要約:
【課題】ウイスカーが発生することの無いSnめっきまたはSn合金メッキ構造及びその製造方法を提供すること。特に、曲げ加工等の外部応力が加わってもウイスカー発生が抑制されるSnめっきまたはSn合金メッキ構造及びその製造方法を提供すること。【解決手段】SnめっきまたはSn合金めっきの結晶粒界にSnの合金相が形成されていることを特徴とするSnめっきまたはSn合金めっき。とりわけ、その結晶粒界の長さに占める割合が50%以上Snの合金相が形成されていること。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
SnめっきまたはSn合金めっきの結晶粒界にSnの合金相が形成されていることを特徴とするSnめっきまたはSn合金めっき。
IPC (6件):
C25D 7/00 ,  C25D 5/10 ,  C25D 5/50 ,  C25D 7/12 ,  H01L 23/50 ,  H01R 13/03
FI (6件):
C25D7/00 G ,  C25D5/10 ,  C25D5/50 ,  C25D7/12 ,  H01L23/50 D ,  H01R13/03 D
Fターム (17件):
4K024AA03 ,  4K024AA04 ,  4K024AA07 ,  4K024AA09 ,  4K024AA14 ,  4K024AA21 ,  4K024AB01 ,  4K024AB02 ,  4K024AB19 ,  4K024BA09 ,  4K024BB09 ,  4K024BB10 ,  4K024BB13 ,  4K024CA01 ,  4K024DB01 ,  4K024GA16 ,  5F067DC16
引用特許:
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (12件)
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