特許
J-GLOBAL ID:200903026695364940
測距方法および装置ならびにこれに用いられる撮像素子
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
柳田 征史
, 佐久間 剛
, 本澤 大樹
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-249025
公開番号(公開出願番号):特開2009-079988
出願日: 2007年09月26日
公開日(公表日): 2009年04月16日
要約:
【課題】変調光位相差方式により距離を測定する際の時間の短縮を図る。【解決手段】一定の周期Tで光強度を変調させた変調光L1が射出されたとき、射出した変調光L1が被写体に照射されたときの被写体からの反射変調光L2を受光する。このとき、第1検出信号αを取得する第1受光素子30aと、第2検出信号βを取得する第2受光素子30cと、第3検出信号γを取得する第3受光素子30cと、第4検出信号δを取得する第4受光素子30dとから構成されるブロックが格子状に複数配列された受光部を用いて4種類の検出信号α〜δを取得する。そして、隣接した4種類の受光素子30a〜30dから取得される4種類の検出信号α〜δを用いて位相差Δφを検出し被写体までの距離dを算出する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
一定の周期で光強度を変調させた変調光を射出し、
射出した前記変調光が被写体に照射されたときの該被写体からの反射変調光を受光することにより、該反射変調光から前記変調光の位相π/2毎に第1検出信号と第2検出信号と第3検出信号と第4検出信号とを取得し、
取得した4種類の前記検出信号を用いて前記変調光と前記反射変調光との位相差を検出して前記被写体までの距離を算出する測距方法であって、
前記4種類の検出信号を取得するとき、前記第1検出信号を取得する第1受光素子と、前記第2検出信号を取得する第2受光素子と、前記第3検出信号を取得する第3受光素子と、前記第4検出信号を取得する第4受光素子とから構成されるブロックが格子状に複数配列された受光部を用いて前記4種類の検出信号を取得し、
前記被写体までの前記距離を算出するとき、隣接する4種類の前記受光素子から取得される前記4種類の検出信号を用いて前記位相差を検出し前記被写体までの前記距離を算出することを特徴とする測距方法。
IPC (4件):
G01S 17/36
, G01C 3/06
, G01S 7/48
, H04N 5/335
FI (6件):
G01S17/36
, G01C3/06 120Q
, G01C3/06 140
, G01S7/48 Z
, H04N5/335 U
, H04N5/335 Z
Fターム (44件):
2F112AD01
, 2F112BA05
, 2F112BA14
, 2F112CA12
, 2F112DA05
, 2F112DA13
, 2F112DA19
, 2F112DA26
, 2F112DA28
, 2F112EA03
, 2F112FA07
, 2F112FA21
, 2F112FA31
, 2F112FA41
, 2F112FA45
, 2F112GA01
, 5C024CY17
, 5C024CY47
, 5C024EX11
, 5C024EX13
, 5C024HX02
, 5C024HX28
, 5C024HX29
, 5C024HX30
, 5C024HX31
, 5J084AA05
, 5J084AD02
, 5J084BA05
, 5J084BA34
, 5J084BA40
, 5J084BB20
, 5J084BB37
, 5J084CA07
, 5J084CA19
, 5J084CA24
, 5J084CA32
, 5J084CA49
, 5J084CA67
, 5J084CA70
, 5J084DA01
, 5J084DA08
, 5J084EA05
, 5J084EA11
, 5J084EA20
引用特許:
出願人引用 (1件)
審査官引用 (19件)
-
特開平3-236689
-
固体撮像装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-067450
出願人:カシオ計算機株式会社
-
特開平2-254397
全件表示
前のページに戻る