特許
J-GLOBAL ID:200903031156439930

MIS電界効果トランジスタ及びその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-318802
公開番号(公開出願番号):特開2002-124682
出願日: 2000年10月19日
公開日(公表日): 2002年04月26日
要約:
【要約】【目的】SOI構造の完全チャネル制御型のMIS電界効果トランジスタの形成【構成】半導体基板1上に酸化膜2を介して設けられ且つ島状に絶縁分離された半導体層(SOI基板)3の対向する2側面(チャネル長方向の2側面)に接して一対の導電膜(メタルソースドレイン領域)7が設けられ、メタルソースドレイン領域7との接触部のSOI基板3に一対の高濃度及び低濃度のソースドレイン領域(5、6)が設けられ、メタルソースドレイン領域7と絶縁分離して、SOI基板3の周囲(上下面及びチャネル幅方向の2側面)がゲート酸化膜(SiO2/Ta2O5 )8を介して設けられたバリアメタル(TiN )9を有するゲート電極(Al)10により包囲された構造に形成されたチャネル領域完全包囲型ゲート電極構造を有するMIS電界効果トランジスタ。
請求項(抜粋):
SOI基板の対向する2側面(チャネル長方向の2側面)を、前記SOI基板の対向する2側面(チャネル長方向の2側面)に設けられた不純物ソースドレイン領域に接して設けられた一対の導電膜(メタルソースドレイン領域)により包囲され、前記SOI基板の残りの4面(上下面及びチャネル幅方向の2側面)を、ゲート絶縁膜を介して設けられたゲート電極により包囲されていることを特徴とするMIS電界効果トランジスタ。
IPC (6件):
H01L 29/786 ,  H01L 21/265 ,  H01L 21/28 301 ,  H01L 21/28 ,  H01L 29/43 ,  H01L 21/336
FI (7件):
H01L 21/28 301 A ,  H01L 21/28 301 L ,  H01L 29/78 617 K ,  H01L 21/265 F ,  H01L 29/62 G ,  H01L 29/78 616 K ,  H01L 29/78 626 C
Fターム (81件):
4M104AA01 ,  4M104AA09 ,  4M104BB01 ,  4M104BB14 ,  4M104BB18 ,  4M104BB30 ,  4M104CC01 ,  4M104CC05 ,  4M104DD02 ,  4M104DD04 ,  4M104DD08 ,  4M104DD16 ,  4M104DD19 ,  4M104DD28 ,  4M104DD37 ,  4M104DD43 ,  4M104DD55 ,  4M104DD66 ,  4M104DD75 ,  4M104DD91 ,  4M104EE03 ,  4M104EE14 ,  4M104EE15 ,  4M104EE16 ,  4M104FF02 ,  4M104FF04 ,  4M104FF06 ,  4M104FF17 ,  4M104FF18 ,  4M104FF22 ,  4M104FF27 ,  4M104GG08 ,  4M104GG20 ,  4M104HH14 ,  4M104HH16 ,  5F110AA02 ,  5F110AA03 ,  5F110AA04 ,  5F110AA06 ,  5F110AA08 ,  5F110AA09 ,  5F110AA14 ,  5F110BB04 ,  5F110CC10 ,  5F110DD05 ,  5F110DD13 ,  5F110DD30 ,  5F110EE01 ,  5F110EE03 ,  5F110EE05 ,  5F110EE09 ,  5F110EE14 ,  5F110EE22 ,  5F110FF01 ,  5F110FF02 ,  5F110FF09 ,  5F110GG02 ,  5F110GG28 ,  5F110GG29 ,  5F110GG30 ,  5F110GG32 ,  5F110GG52 ,  5F110HJ01 ,  5F110HJ04 ,  5F110HJ13 ,  5F110HJ22 ,  5F110HK04 ,  5F110HK34 ,  5F110HL01 ,  5F110HL04 ,  5F110HL06 ,  5F110HL12 ,  5F110HL23 ,  5F110HM15 ,  5F110NN02 ,  5F110NN04 ,  5F110NN25 ,  5F110NN62 ,  5F110NN65 ,  5F110QQ11 ,  5F110QQ17
引用特許:
審査官引用 (9件)
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