特許
J-GLOBAL ID:200903066100199528
微細構造体の乾燥方法および該方法により得られる微細構造体
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小谷 悦司 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-120292
公開番号(公開出願番号):特開2003-243352
出願日: 2002年04月23日
公開日(公表日): 2003年08月29日
要約:
【要約】【課題】 液化または超臨界二酸化炭素で現像後の半導体基板等の微細構造体を乾燥するに当たり、パターンの膨潤のない乾燥方法を提供する。【解決手段】 微細構造体を液化二酸化炭素または超臨界二酸化炭素で乾燥する方法であって、微細構造体表面がフルオロカーボン系溶媒で覆われた状態で、該微細構造体を液化二酸化炭素または超臨界二酸化炭素と接触させて乾燥する。
請求項(抜粋):
微細構造体を液化二酸化炭素または超臨界二酸化炭素で乾燥する方法であって、微細構造体表面をフルオロカーボン系溶媒で覆う工程と、微細構造体表面をフルオロカーボン系溶媒で覆った状態で、該微細構造体を液化二酸化炭素または超臨界二酸化炭素と接触させる工程とを含むことを特徴とする微細構造体の乾燥方法。
IPC (2件):
H01L 21/304 651
, H01L 21/027
FI (2件):
H01L 21/304 651 Z
, H01L 21/30 569 F
Fターム (1件):
引用特許:
出願人引用 (13件)
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超臨界乾燥装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-248672
出願人:日本電信電話株式会社
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レジストパターン形成方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-259531
出願人:株式会社ソルテック, 江刺正喜
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半導体装置の製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-122064
出願人:富士通株式会社
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超臨界乾燥方法および超臨界乾燥装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-134441
出願人:日本電信電話株式会社
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超臨界乾燥方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-346205
出願人:日本電信電話株式会社
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感放射線性組成物用アルカリ性現像液
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-110204
出願人:日本合成ゴム株式会社
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ウェットエッチング方法及びウェット洗浄方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-356537
出願人:株式会社ソルテック
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超臨界乾燥方法および装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-019596
出願人:日本電信電話株式会社
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洗浄方法および装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-297508
出願人:栗田工業株式会社
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脱水用溶剤
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-324186
出願人:旭化成工業株式会社
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特開平4-211500
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特開平4-017333
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洗浄方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-005038
出願人:三井・デュポンフロロケミカル株式会社
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