特許
J-GLOBAL ID：200903099490669460
液晶表示装置の検査方法および液晶表示装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松村 博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-192434
公開番号（公開出願番号）：特開平11-038375
出願日： 1997年07月17日
公開日（公表日）： 1999年02月12日
要約：
【要約】【課題】 液晶表示装置の静電気による表示欠陥を防止し、また簡易な一括画像検査を可能にする。【解決手段】 互いに交差させて配置した複数のゲート配線2と、複数のソース配線3と、両配線2,3の各交差点にTFT5と表示電極6とがマトリックス状に複数配列され、さらに液晶層を挟んで対向基板7が設けられた液晶表示装置において、ゲート配線2およびソース配線3を、高抵抗の配線材を用いて複数本で短絡した並列配線17を介して接続することによって低抵抗にし、このため静電気の侵入に対しては高抵抗の配線にて侵入を防止し、しかもゲート配線2およびソース配線3は低抵抗にて短絡して良好な表示検査を可能にする。
請求項（抜粋）：
基板の一主面上に信号配線および走査配線が配設された液晶表示装置を製造するための工程に用いられる液晶表示装置の検査方法において、前記信号配線または前記走査配線の少なくとも一部を2本以上の並列配線を介して短絡した状態で特性検査を行うことを特徴とする液晶表示装置の検査方法。
IPC (5件)：
G02F 1/13 101
, G01R 31/00
, G02F 1/1343
, G02F 1/136 500
, H01L 29/786
G02F 1/13 101
, G01R 31/00
, G02F 1/1343
, G02F 1/136 500
, H01L 29/78 624
出願人引用 (20件)
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審査官引用 (7件)
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