特許
J-GLOBAL ID：201003073621524120
表面疵検査装置
発明者：
,
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
亀谷 美明
, 金本 哲男
, 萩原 康司
, 松本 一騎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-185520
公開番号（公開出願番号）：特開2010-025652
出願日： 2008年07月17日
公開日（公表日）： 2010年02月04日
要約：
【課題】簡略な構成により、所定の受光角度でしか輝度変化を得ることができないような微小凹凸疵、色調変化疵をリアルタイム検出し、帯状体がロールに巻き付いた形状であっても帯状体のエッジを適切かつ正確に認識できる疵検査装置を提供する。【解決手段】ロール2に巻き付いた形状で移動する帯状体1の表面に帯状光L1を照射した帯状体面上の2次元照射領域LAを、帯状光の入射と対向設置して撮像する2次元撮像装置20を備え、該2次元撮像装置は、帯状体の照射領域からの反射光の中で所定の2つ以上の異なる受光角度βで特定される反射光のみの画像信号を、帯状体の搬送速度に同期させて同時に部分読み出した画素列から得られる画像信号を帯状体の長手方向に合成する画像処理装置32と、画像列からエッジ位置を算出するエッジ算出装置31を備えることで、発生する疵に合わせて複数の受光角度で精度よくリアルタイム疵検出する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
ロールにより搬送される帯状体の、該ロールに巻き付いた部分において、該帯状体の表面の幅方向全域に帯状光を照射し、該帯状光が照射される領域である帯状光照射領域からの該帯状光の反射光を撮像し、該帯状体の表面の疵を検査する表面疵検査装置であって、
前記帯状光の前記帯状体に対する垂直方向入射角度が、該帯状光照射領域のすべての点において、予め設定した所定の値と等しくなるように、ロール径に合わせ収束する帯状光を照射する照明装置と、
前記帯状光照射領域を挟んで前記照明装置と対向配置され、前記帯状体の移動に同期して、該帯状光照射領域の内の、前記帯状体の移動方向における位置が異なる複数の部分領域を、夫々異なる複数の垂直方向反射角度で撮像して、複数の列単位画像を出力する、部分読み出し可能な2次元撮像装置と、
前記複数の列単位画像のうちの少なくとも二つ以上の列単位画像の夫々からフレーム画像が構成される間に、該複数の列単位画像のうちの少なくとも一つ以上の列単位画像からの輝度情報を用いて、前記帯状体のエッジ位置を算出するエッジ算出装置と、
前記フレーム画像を画像処理して、前記帯状体の表面の疵を検出する疵画像処理装置と、
を備えることを特徴とする表面疵検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N21/892 B
, G06T1/00 300
2G051AA37
, 2G051AB07
, 2G051BB17
, 2G051CA04
, 2G051CB01
, 2G051CB05
, 2G051DA06
, 2G051DA08
, 2G051EA12
, 2G051EA14
, 2G051EA17
, 2G051ED07
, 2G051ED22
, 5B057AA01
, 5B057BA02
, 5B057BA15
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057DA03
, 5B057DB02
, 5B057DB09
, 5B057DC16
出願人引用 (13件)
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審査官引用 (12件)
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