特許
J-GLOBAL ID:201103003265723813

ノーマリオフ型GaN系電界効果トランジスタ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (7件): 深見 久郎 ,  森田 俊雄 ,  仲村 義平 ,  堀井 豊 ,  酒井 將行 ,  荒川 伸夫 ,  佐々木 眞人
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-102217
公開番号(公開出願番号):特開2011-233695
出願日: 2010年04月27日
公開日(公表日): 2011年11月17日
要約:
【課題】ゲート耐電圧が高くかつオン抵抗が低減されたノーマリオフ型GaN系FETを提供する。【解決手段】ノーマリオフ型GaN系FETは、第1種GaN系半導体からなるチャネル層4と、このチャネル層上で互いに隔てて設けられた第2種GaN系半導体からなる一対の電子供給層5と、これら電子供給層の間でチャネル層を覆うゲート絶縁膜7と、チャネル層にオーミックコンタクトしているソース電極およびドレイン電極と、ゲート絶縁膜上に形成されたゲート電極とを備え、ゲート絶縁膜はチャネル層上に順次堆積された第1と第2の絶縁層を含み、第1絶縁層7aはSiの酸化物、窒化物および酸窒化物のいずれかからなりかつ5nm以下の厚さを有し、第2絶縁層7bは第1絶縁層に比べて大きなε×Ecを有し、ここでεは誘電率を表し、Ecは絶縁破壊電界を表している。【選択図】図7
請求項(抜粋):
ノーマリオフ型GaN系電界効果トランジスタであって、 第1種GaN系半導体からなるチャネル層と、 前記チャネル層上で互いに離間されて設けられた第2種GaN系半導体からなる一対の電子供給層と、 前記一対の電子供給層の間で前記チャネル層を覆うゲート絶縁膜と、 前記チャネル層にオーミックコンタクトしているソース電極およびドレイン電極と、 前記ゲート絶縁膜上に形成されているゲート電極とを備え、 前記ゲート絶縁膜は前記チャネル層上に順次堆積された第1と第2の絶縁層を含み、 前記第1の絶縁層はSiの酸化物、窒化物および酸窒化物のいずれかからなりかつ5nm以下の厚さを有し、 前記第2の絶縁層は前記第1の絶縁層に比べて大きなε×Ecを有し、ここでεは誘電率を表し、Ecは絶縁破壊電界を表すことを特徴とするトランジスタ。
IPC (5件):
H01L 21/338 ,  H01L 29/778 ,  H01L 29/812 ,  H01L 29/786 ,  H01L 29/78
FI (4件):
H01L29/80 H ,  H01L29/78 618B ,  H01L29/78 617U ,  H01L29/78 301B
Fターム (66件):
5F102FA01 ,  5F102FA02 ,  5F102FA03 ,  5F102GB01 ,  5F102GC01 ,  5F102GD10 ,  5F102GJ02 ,  5F102GJ03 ,  5F102GJ04 ,  5F102GJ10 ,  5F102GK04 ,  5F102GL04 ,  5F102GM04 ,  5F102GN04 ,  5F102GQ01 ,  5F102GR04 ,  5F102GV06 ,  5F102GV07 ,  5F102HC01 ,  5F102HC15 ,  5F110AA07 ,  5F110AA12 ,  5F110BB13 ,  5F110CC01 ,  5F110DD01 ,  5F110FF01 ,  5F110FF02 ,  5F110FF03 ,  5F110FF04 ,  5F110FF05 ,  5F110FF09 ,  5F110FF10 ,  5F110FF28 ,  5F110GG04 ,  5F110GG12 ,  5F110GG19 ,  5F110GG42 ,  5F110GG44 ,  5F110HJ13 ,  5F110HK11 ,  5F110HK13 ,  5F110HK32 ,  5F110HK34 ,  5F110HK42 ,  5F140AA19 ,  5F140AA30 ,  5F140AC36 ,  5F140BA01 ,  5F140BA02 ,  5F140BA06 ,  5F140BA09 ,  5F140BB06 ,  5F140BB18 ,  5F140BC12 ,  5F140BD01 ,  5F140BD02 ,  5F140BD05 ,  5F140BD07 ,  5F140BD09 ,  5F140BD13 ,  5F140BE09 ,  5F140BF43 ,  5F140BH27 ,  5F140BK13 ,  5F140BK17 ,  5F140BK33
引用特許:
審査官引用 (11件)
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