特許
J-GLOBAL ID:201103003265723813
ノーマリオフ型GaN系電界効果トランジスタ
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (7件):
深見 久郎
, 森田 俊雄
, 仲村 義平
, 堀井 豊
, 酒井 將行
, 荒川 伸夫
, 佐々木 眞人
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-102217
公開番号(公開出願番号):特開2011-233695
出願日: 2010年04月27日
公開日(公表日): 2011年11月17日
要約:
【課題】ゲート耐電圧が高くかつオン抵抗が低減されたノーマリオフ型GaN系FETを提供する。【解決手段】ノーマリオフ型GaN系FETは、第1種GaN系半導体からなるチャネル層4と、このチャネル層上で互いに隔てて設けられた第2種GaN系半導体からなる一対の電子供給層5と、これら電子供給層の間でチャネル層を覆うゲート絶縁膜7と、チャネル層にオーミックコンタクトしているソース電極およびドレイン電極と、ゲート絶縁膜上に形成されたゲート電極とを備え、ゲート絶縁膜はチャネル層上に順次堆積された第1と第2の絶縁層を含み、第1絶縁層7aはSiの酸化物、窒化物および酸窒化物のいずれかからなりかつ5nm以下の厚さを有し、第2絶縁層7bは第1絶縁層に比べて大きなε×Ecを有し、ここでεは誘電率を表し、Ecは絶縁破壊電界を表している。【選択図】図7
請求項(抜粋):
ノーマリオフ型GaN系電界効果トランジスタであって、
第1種GaN系半導体からなるチャネル層と、
前記チャネル層上で互いに離間されて設けられた第2種GaN系半導体からなる一対の電子供給層と、
前記一対の電子供給層の間で前記チャネル層を覆うゲート絶縁膜と、
前記チャネル層にオーミックコンタクトしているソース電極およびドレイン電極と、
前記ゲート絶縁膜上に形成されているゲート電極とを備え、
前記ゲート絶縁膜は前記チャネル層上に順次堆積された第1と第2の絶縁層を含み、
前記第1の絶縁層はSiの酸化物、窒化物および酸窒化物のいずれかからなりかつ5nm以下の厚さを有し、
前記第2の絶縁層は前記第1の絶縁層に比べて大きなε×Ecを有し、ここでεは誘電率を表し、Ecは絶縁破壊電界を表すことを特徴とするトランジスタ。
IPC (5件):
H01L 21/338
, H01L 29/778
, H01L 29/812
, H01L 29/786
, H01L 29/78
FI (4件):
H01L29/80 H
, H01L29/78 618B
, H01L29/78 617U
, H01L29/78 301B
Fターム (66件):
5F102FA01
, 5F102FA02
, 5F102FA03
, 5F102GB01
, 5F102GC01
, 5F102GD10
, 5F102GJ02
, 5F102GJ03
, 5F102GJ04
, 5F102GJ10
, 5F102GK04
, 5F102GL04
, 5F102GM04
, 5F102GN04
, 5F102GQ01
, 5F102GR04
, 5F102GV06
, 5F102GV07
, 5F102HC01
, 5F102HC15
, 5F110AA07
, 5F110AA12
, 5F110BB13
, 5F110CC01
, 5F110DD01
, 5F110FF01
, 5F110FF02
, 5F110FF03
, 5F110FF04
, 5F110FF05
, 5F110FF09
, 5F110FF10
, 5F110FF28
, 5F110GG04
, 5F110GG12
, 5F110GG19
, 5F110GG42
, 5F110GG44
, 5F110HJ13
, 5F110HK11
, 5F110HK13
, 5F110HK32
, 5F110HK34
, 5F110HK42
, 5F140AA19
, 5F140AA30
, 5F140AC36
, 5F140BA01
, 5F140BA02
, 5F140BA06
, 5F140BA09
, 5F140BB06
, 5F140BB18
, 5F140BC12
, 5F140BD01
, 5F140BD02
, 5F140BD05
, 5F140BD07
, 5F140BD09
, 5F140BD13
, 5F140BE09
, 5F140BF43
, 5F140BH27
, 5F140BK13
, 5F140BK17
, 5F140BK33
引用特許:
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