特許
J-GLOBAL ID:201303022506117218

物体の2次元または3次元の位置調整のための高解像度顕微鏡および方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 恩田 博宣 ,  恩田 誠 ,  本田 淳
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-545135
公開番号(公開出願番号):特表2013-515249
出願日: 2010年12月14日
公開日(公表日): 2013年05月02日
要約:
2次元または3次元の物体位置調整のための高解像度顕微鏡および方法は、以下の方法ステップa)からo)の少なくとも1つを含む。a)アナモルフィックレンズ、好ましくは結像中の円柱レンズを使用して、オリエンテーションおよび形状により、結像された粒子または分子の垂直(Z)ポジションが検出されること、b)検出ビーム経路内で、異なった光学的経路長を備えた少なくとも2つの検出部分ビーム経路が分割され、検出器上でずらして検出されること、c)活性化または切り替えを、多光子励起プロセス、好ましくは2光子励起によって行うこと、d)点スキャンニングの活性化または切り替えを行うこと、e)ラインスキャニングの活性化または切り替えを行うこと、f)試料の励起および試料光の検出を広視野モードで行うこと、g)手動または自動であらかじめ定められた試料範囲が活性化されるまたは切り替えられること、h)活性化または切り替えをAOTFまたはSLMまたはDMDによって行うこと、i)スペクトル分割要素、好ましくは格子によってレーザパルスが活性化または切り替えのためにスペクトル分割されること、j)SLMまたはDMDがビーム路内の格子の後ろで、分割されたレーザパルス部分の制御された選択を行うこと、k)レーザ広視野励起は、SLMまたはDMDによってもたらされること、l)ROIがSLMまたはDMDによって選択されること、m)多光子切り替えまたは活性化をマイクロレンズアレイ、好ましくは円柱レンズアレイによって行うこと、n)切り替えおよび/または励起をラインスキャナによって行うこと、o)ライン検出を、空間分解センサによって行い、その際それぞれ複数のセンサから成る、少なくとも2つのセンサ列を備えたスリット絞りの調整によって、試料光に照らされること。
請求項(抜粋):
物体の、特に個々の蛍光色素分子の2次元または3次元の位置調整のための、好ましくは試料の空間的な高解像度の蛍光顕微鏡検査法のための高解像度顕微鏡であって、該試料はマーキング分子によってマーキングされており、該マーキング分子は信号によって活性化されたまたは切り替えられた状態で、初めて蛍光ビームの放出のために励起可能であるように活性化が可能または切り替え可能であり、その際この方法は、 1)試料中に存在するマーキング分子のただ1つのサブセットだけが活性化されるよう試料に信号を与えるステップであって、その際試料に部分領域が存在し、その中で活性化されたマーキング分子が最も近くで隣接した活性化されたマーキング分子に対して少なくとも1つの間隔を空けており、この間隔の大きさがあらかじめ定められた光学解像度から生じた長さより大きいかまたは同じである、前記試料に信号を与えるステップと、 2)活性化された分子を励起して蛍光ビームを放出するステップと、 3)あらかじめ定められた光学解像度を使用して蛍光ビームを検出するステップと、 4)ステップ3)で記録した蛍光ビームから単一画像を生成するステップであって、その際蛍光ビームを放出するマーキング分子の幾何学的位置が、あらかじめ定められた光学解像度によって高められた空間解像度を使用して算出される、前記単一画像を生成するステップと を含み、その際これらのステップが何度も繰り返され、およびそのようにして得られた複数の単一画像が1つの全体画像につなぎ合わせられ、以下の構成、a)結像ビーム路内にアナモルフィックレンズ、好ましくは円柱レンズが配置されていること、 b)少なくとも1つのビームスプリッタが検出ビーム経路を少なくとも2つの部分ビーム経路に分割するために備えられており、該部分ビーム経路が検出レベル中で互いに空間的にずれていること、 c)活性化源または切り替え源として、非直線試料励起のためのショートパルスレーザまたは白光源が備えられていること、 d)非直線励起は2光子励起であること、 e)励起のための点スキャナが備えられていること、 f)励起のためのラインスキャナが備えられていること、 g)試料範囲を選択的に活性化または切り替えるための手段を備えられていること、 h)選択的に活性化または切り替えるための手段がAOTF、SLMまたはDMDであること、 i)試料を励起するために広視野照明および広視野照明検出が備えられていること、 j)レーザパルスが活性化または切り替えのためにスペクトル分割する格子が備えられていること、 k)選択的にスペクトル分割されたレーザパルス成分を選ぶために、SLMまたはDMDが照明ビーム路内で格子の後に備えられていること、 l)テレスコピックビーム路内で分割されたビーム成分が画像レベル内または試料内で統合されること、 m)多光子切り替えまたは活性化のためにマイクロレンズアレイ、好ましくは円柱レンズアレイが備えられていること、 n)ラインスキャンする装置が切り替えまたは活性化のためにおよび励起のために備えられていること、 o)ライン検出のために空間分解センサが備えられており、その際スリット絞りが、それぞれ複数のセンサ列から成る少なくとも2つのセンサ列が試料光によって照らされるように開かれていること、 p)センサが隣り合って、または連結されて、または45度の配置で備えられていること、 q)顕微鏡のために画像スプリッタ装置が備えられていること のうちの少なくとも1つの構成を有する、高解像度顕微鏡。
IPC (2件):
G01N 21/64 ,  G02B 21/00
FI (3件):
G01N21/64 E ,  G01N21/64 F ,  G02B21/00
Fターム (26件):
2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043FA02 ,  2G043GA01 ,  2G043GB01 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043HA15 ,  2G043JA02 ,  2G043JA04 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA05 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2G043NA01 ,  2H052AA07 ,  2H052AA09 ,  2H052AC04 ,  2H052AC14 ,  2H052AC15 ,  2H052AC34 ,  2H052AD34 ,  2H052AF03
引用特許:
審査官引用 (10件)
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引用文献:
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