特許
J-GLOBAL ID:201303041799804383
波形フォーマッタ・この波形フォーマッタを搭載した半導体デバイス試験装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
龍華国際特許業務法人
, 稲垣 稔
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-273855
公開番号(公開出願番号):特開2001-091598
特許番号:特許第4757365号
出願日: 1999年09月28日
公開日(公表日): 2001年04月06日
請求項(抜粋):
【請求項1】 各種のモードの波形を生成するための複数の論理信号を出力する論理演算回路と、
前記複数の論理信号を複数の試験パターン発生部に分配する分配回路と、
前記分配回路で分配した前記複数の論理信号のそれぞれに対して設けられて対応する論理信号の立上り又は立下りのエッジをそれぞれ取り出す複数の微分回路を有する微分回路群と、
前記微分回路群で微分した各微分パルスの論理和を求めるオアゲート回路と、前記オアゲート回路で求めた前記微分パルスの論理和されたパルス列をセット入力端子及びリセット入力端子に入力して試験パターン信号を生成するフリップフロップとをそれぞれ有する前記複数の試験パターン発生部と、
を備える波形フォーマッタ。
IPC (3件):
G01R 31/3183 ( 200 6.01)
, G01R 31/28 ( 200 6.01)
, G11C 29/10 ( 200 6.01)
FI (4件):
G01R 31/28 Q
, G01R 31/28 H
, G01R 31/28 B
, G11C 29/00 657 B
引用特許:
出願人引用 (7件)
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メモリテスタの書込み制御回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-209192
出願人:日立電子エンジニアリング株式会社
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試験波形発生器
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-249926
出願人:横河電機株式会社
-
タイミング信号発生装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-305736
出願人:横河電機株式会社
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審査官引用 (9件)
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