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J-GLOBAL ID:200903044188367944
半導体パワーモジュール
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
井上 学
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004368629
Publication number (International publication number):2006179538
Application date: Dec. 21, 2004
Publication date: Jul. 06, 2006
Summary:
【課題】 樹脂封止半導体パワーモジュールのハンダ接続部の熱疲労寿命と耐湿性とを、同時に向上させる。【解決手段】 本願発明の半導体パワーモジュールは、セラミックス絶縁基板もしくは、樹脂絶縁金属基板に熱拡散板を介してハンダ付けしたシリコンチップと接続導線とを、まず耐熱性、耐湿性に優れるポリイミド系樹脂でプリコートし、次に、低いヤング率で、ハンダの線膨張係数に合わせた線膨張係数のエポキシ系樹脂で前記プリコート樹脂の上を被覆し、封止する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
セラミックス絶縁基板の一方の面に配置した電極に、メタライズされたSi半導体チップ裏面をハンダ付けし、該セラミックス絶縁基板上の他方の面をベース基板にハンダ付けした半導体パワーモジュールにおいて、
該半導体パワーモジュールが、前記Si半導体チップ表面と前記セラミックス絶縁基板の他の電極とを接続する接続導体と、前記Si半導体チップと前記セラミックス絶縁基板の一方の面とを被覆する第1の樹脂と、該第1の樹脂を被覆する第2の樹脂とによって、封止されていて、
前記第1の樹脂のヤング率が前記第2の樹脂のヤング率より小さく、
前記第2の樹脂は、ヤング率が3GPa〜20GPaであって、その線膨張係数が10×10-6/°C〜40×10-6/°Cであるエポキシ系樹脂であって、
前記第2の樹脂を、ポッティング若しくはトランスファモールドで封止したことを特徴とする半導体パワーモジュール。
IPC (2):
FI (1):
F-Term (7):
4M109AA02
, 4M109BA03
, 4M109CA10
, 4M109DB01
, 4M109DB15
, 4M109EC04
, 4M109EE02
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
Cited by examiner (10)
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樹脂封止型電子装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-182034
Applicant:株式会社デンソー
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樹脂封止型電子回路装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-248405
Applicant:サンケン電気株式会社
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樹脂封止型回路装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-017905
Applicant:サンケン電気株式会社
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特開平2-105446
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特開昭61-222239
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半導体装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-228272
Applicant:株式会社デンソー
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樹脂封止型半導体装置および半導体装置封止用樹脂組成物
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-346246
Applicant:東レ株式会社
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電子基板、パワーモジュール、およびモータ駆動装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-418595
Applicant:ヤマハ発動機株式会社
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半導体装置及びこれを用いた電子装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-046311
Applicant:株式会社日立製作所, 日立東部セミコンダクタ株式会社
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混成集積回路装置およびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-196985
Applicant:三洋電機株式会社
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