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J-GLOBAL ID：200903061231790807

光画像計測装置

Inventor：
チャン キンプイ

About チャン キンプイ

, 
秋葉 正博

About 秋葉 正博


Applicant, Patent owner：
株式会社トプコン

About 株式会社トプコン


Agent (1)： 三澤 正義
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004291243
Publication number (International publication number)：2006105720
Application date： Oct. 04, 2004
Publication date： Apr. 20, 2006
Summary：
【課題】 生体組織の機能的情報を表現する画像を効率的に形成することが可能な光画像計測装置を提供する。【解決手段】 波長の異なる光ビームB1、B2(B)を周期的に強度変調させつつ交互に出力する光ビーム出射部2と、光ビームBを直線偏光に変換する偏光板3と、光ビームBを信号光Sと参照光Rとに分割するハーフミラー6と、参照光Rの偏光特性を変換する波長板7と、参照光Rの周波数をシフトさせる周波数シフタ8と、信号光Sと参照光Rとを重畳させて干渉光Lを生成するハーフミラー6と、干渉光Lの複数の偏光成分を抽出する偏光ビームスプリッタ11と、抽出された干渉光Lの各偏光成分を検出するCCD21、22と、光ビームB1、B2についてCCD21、22によりそれぞれ検出された干渉光Lの各偏光成分に基づいて被測定物体Oの画像を形成する信号処理部20とを備える。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
複数の異なる波長の光ビームをそれぞれ周期的に強度変調させつつ、切り換えて出力する光ビーム出力手段と、 前記光ビームの偏光特性を直線偏光に変換する第1の変換手段と、 前記光ビームを被測定物体を経由する信号光と参照物体を経由する参照光とに分割する分割手段と、 直線偏光の前記信号光又は前記参照光の偏光特性を変換する第2の変換手段と、 前記信号光の周波数と前記参照光の周波数とを相対的にシフトさせる周波数シフト手段と、 前記第1及び第2の変換手段により変換された偏光特性をそれぞれ有し、前記周波数シフト手段により周波数がシフトされ、前記被測定物体と前記参照物体とをそれぞれ経由した前記信号光と前記参照光とを重畳させて干渉光を生成する重畳手段と、 前記生成された前記干渉光の異なる複数の偏光成分を抽出する抽出手段と、 前記抽出された前記干渉光の各偏光成分を検出する2次元の検出手段と、 前記複数の異なる波長の内の少なくとも2つの波長の光ビームのそれぞれについての前記検出手段による検出結果に基づいて、前記被測定物体の画像を形成する画像形成手段と、 を備えることを特徴とする光画像計測装置。
IPC (1)：
G01N 21/17
FI (1)：
G01N21/17 630
F-Term (16)：
2G059AA01 ,  2G059BB13 ,  2G059CC16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE11 ,  2G059FF02 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG06 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ20 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ23 ,  2G059KK04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (8)
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