特許
J-GLOBAL ID:200903054320659726

低屈折率SiO2 膜及びその製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 光来出 良彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-315992
公開番号(公開出願番号):特開平10-230561
出願日: 1997年10月31日
公開日(公表日): 1998年09月02日
要約:
【要約】【課題】 SiO2 膜とするための原料を用い、しかもその屈折率を従来のSiO2 膜の屈折率よりも低い屈折率のSiO2 膜を提供する。【解決手段】 F原子を含むガス、Si原子及び炭素原子が1〜4個のアルキル基またはアルキル基のH原子の一部または全部がF原子に置換されているものを含むガス、及びO原子を含むガスを原料ガスとし、真空チャンバー1内でプラズマCVD法によりプラズマゾーン5にてウエッブ2上にSiO2 膜を形成する。得られたSiO2 膜はF原子、炭素原子が1〜4個のアルキル基、及び炭素原子が1〜4個のアルキル基のH原子の一部または全部がF原子に置換されたものから選ばれた1種以上の低屈折率要素が導入されており、該低屈折率要素が導入されていないSiO2 膜に比べて屈折率が低い。
請求項(抜粋):
F原子、炭素原子が1〜4個のアルキル基、及び炭素原子が1〜4個のアルキル基のH原子の一部または全部がF原子に置換されたものから選ばれた1種以上の低屈折率要素が導入された低屈折率SiO2 膜。
IPC (5件):
B32B 9/00 ,  B32B 7/02 103 ,  C03C 17/245 ,  C23C 16/42 ,  G02B 1/11
FI (5件):
B32B 9/00 A ,  B32B 7/02 103 ,  C03C 17/245 Z ,  C23C 16/42 ,  G02B 1/10 A
引用特許:
審査官引用 (19件)
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